集成逻辑门电路逻辑 功能的测试
实验一 集成逻辑门电路逻辑 功能的测试
一实验目的 1熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方 法 2掌握各种TL门电路的逻辑功能
一、实验目的 1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方 法。 2、掌握各种TTL门电路的逻辑功能
实验仪器及设备 数字逻辑实验箱1台 2,元器件 4508(二输入端四与门) 1片 4Ls32(二输入端四或门) 1片 4Ls04(六反相器) 1片 z4Ls00(二输入端四与非门) 1片 74Ls20(四输入端二与非门) 1片 74LS86(二输入端四异或门) 1片 CD4002(四输入端二或非门) 1片 导线若干一
二、实验仪器及设备 1、数字逻辑实验箱 1台 2、元器件： 74LS08（二输入端四与门） 1片 74LS32（二输入端四或门） 1片 74LS04（六反相器） 1片 74LS00（二输入端四与非门） 1片 74LS20（四输入端二与非门） 1片 74LS86（二输入端四异或门） 1片 CD4002（四输入端二或非门） 1片 导线若干
三验内客 L,测试41508(二输入端四与门)的逻辑功能 测试74LS32(二输入端四或门)的逻辑功能 3.测试74Ls04(六反相器)的逻辑功能 测试74Ls00(二输入端四与非门)的逻辑功能 5,测试74Ls20(四输入端二与非门)的逻辑功能 6.测试74Ls86(二输入端四异或门)的逻辑功能 7.测试CD4002(四输入端二或非门)的逻辑功能
三、实验内容 1．测试74LS08（二输入端四与门）的逻辑功能 2．测试74LS32（二输入端四或门）的逻辑功能 3．测试74LS04（六反相器）的逻辑功能 4．测试74LS00（二输入端四与非门）的逻辑功能 5．测试74LS20（四输入端二与非门）的逻辑功能 6．测试74LS86（二输入端四异或门）的逻辑功能 7．测试CD4002（四输入端二或非门）的逻辑功能
集成块实物囹
集成块实物图
VcC 4B 4A 4Y 3b 3A 3Y VCc 2D 2C 2B NC 2A 2Y 141312111098 141312111098 74LS00 74LS20 1234567 1234567 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 1A 1B NC 1C ID 1Y GND 图 图b VCc 2Y 2D 2 2B 2A NC Vcc 6B 6Y 5B 5Y 4B 4Y 141312111098 141312111098 CD4002 74L04 1234567 1234567 1Y 1A 1B 1C 1D NC GND 1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y GND 图d
,测试74LS08的逻辑功能 将了4LS08芯片正确插入面包板,并注意识 别第脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则 左下角为第1脚)。按表一要求输入高、低电平 信号,测出相应的输出逻辑电平。 )1 14p
1．测试74LS08的逻辑功能 将74LS08芯片正确插入面包板，并注意识 别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则 左下角为第1脚）。按表一要求输入高、低电平 信号，测出相应的输出逻辑电平
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实物接线图
2,测试74L532的逻辑功能 将74s32正确插入面包板,并注意识 别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左, 则左下角为第1脚)。按表一要求输入高 低电平信号,测出相应的输出逻辑电平
2．测试74LS32的逻辑功能 将74LS32正确插入面包板，并注意识 别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左， 则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、 低电平信号，测出相应的输出逻辑电平
3,测试74LS04的逻辑功能 将74LS04正确插入面包板,并注意识 别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左, 则左下角为第1脚)。按表一要求输入高 低电平信号,测出相应的输出逻辑电平
3．测试74LS04的逻辑功能 将74LS04正确插入面包板，并注意识 别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左， 则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、 低电平信号，测出相应的输出逻辑电平
