
J日 中华人民共和国行业标准 JT730105 承压设备无损检测 第1部分:通用要求 Nondestructive testing of pressure equipments- Part 1:General requirements 2005-07-26发在 2005-11-01实施 国家发展和改革委员会发布

B/T4730.1-2005 目 次 2规范性用文件 术语和 般要求 附录A《资料性附录)承压设备无损检测相关标准及文件日录……… …15
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B/T4730.1-2005 前 言 JBT4730.1=4730.6一2005《承压设备无担检测》分为六个部分: —第1部分:通用要求: 一第2部分:线检测: 一—第3部分:屈声检测: —第4部分:感粉校测: —第5部分:浓透检测: —第6部分:阀流检测。 本部分为BT4730.!~4?306一2005的第1部分:道用要求。本部分主要参别AME《战炉压力容 器规范》第V卷和S标准的有关要求,并结合国内的实际情况利尾。木部分与B470一99相比主 零变化如下: L.扩大了标准的使用范用。 )规定了射战、超南,強粉,溶透和祸流检调共五种常规的犬损橡测方法及质城分蟹评定: 6】适用干金调材料州杀氏设备无损换测: c)增加了在用承k设备无损检测的技术要求: d)增加了承压设备支承择和结构件的无拔枪测技术要求。 2.增加了无拟检测方法使用原测的排关规定。 a》根据禾压设备材质。制造方法、工作介质、使用条件和失效模式。选择合适的无尤州检测方法: b)射线和超声检测主要州检图承乐世备内彬秋陪: ©》粉检剩主要川于校测铁陆性材料剂承压议备表面和近表面缺:湖流检测主要川于检 导电材料制承压设备表面和近表面缺名: d)德透检围用于检测多九性金周材料制承压设备表面开口缺陷: ©》在某生称淀条件下允许果用中发射,X射线实时成像等新的无损检测方法。 3.增加了对采用新的无根校测方法和新的无捐检调设备的具体规定。 。)果用国外新检期方法时,这种方法及其检测范围应是闲外承压投备行业所允许使用的: 6)采用国内新研制的检测方法封,应经全国倒炉压力容指标准化技术委员全评事,形成标准 案例。 4增加了无枫检测T艺规程的内容(酒用工艺耗程和工艺卡), a)通用工艺规程京莲肌或严于现行法规、标准的要求,应针对检验单位的特点和能力: 6》无损检测工艺卡痘根据相关法规、标准编制,承压设备及军部件的无摸检制丁作应按无报 栓测工艺卡进行, 5.增加了对无捐检测设各的定期检羚要求,规定检测用仪器、设备性相应进行定期检定,检定结 果应有记录可查。 本部分的附录A为资料性附录。 木都分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会《SAC/TC262)提出, 木部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会《SAC/TC262)归口。 本部分主要起草人:寿比南、沈铜、食棉,强天精、康纪黔、何泽云,胡军、杨国义
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0/T4730.1-2005 承压设备无损检测 第1部分:通用要求 1楚图 BT4730的本部分规定了时线检则.钢声险测、监粉检、漆透校]和祸流校购五种无相检测方法 的一般要求和使用原测。 本都分适用于在制和在用金属材料制承压没备的无拟校割。 2规范性引用文件 下列文件中的条款,通过BT470的本都分的引用而成为木部分的条款。凡是注日期的引用文件, 其随后所有的修改单《不位括物误的内容》戏:订版均不适用于本都分,然而,敲历根据本部分达成协 议的各方研究是香可使用这些义件的最新级水。凡是不生日则的引用文件,其最新版本适用于本都分。 GB/T12604.1 无规检调术语粗声检测 0B/T12604.2 无横校测术开射线检测 GB/T12604.3 无损枪圆术语豫边检测 GBT12604.4 无横检测术语声发射检测 GB/T12604.5 无物检图术环酸粉检图 GB/T12604.6 无场检测术语淘流检图 GB17925-1999 气压对接爆绩X射线实时成像粒划 GT18182一-2000金属压力容潜声发财检图及站果坪价方法 GT1293一2003对接焊缝X射线实时咸像检薄法 JB/T4730.2 承乐设备无制检测第2部分:射线检测 JB/T4730.3 承乐设备无拟检刹第3部分:超声检测 JB/T4730.4 承,乐设备无找校测 第4部分:隘物校测 JBT4730.5 承压设备无损检测第5部分:禊透检测 JBT4730.6 承压设备无损检润第6部分;洞流检测 国家质量监骨检验检疫总局国质锅检字[2003】248号文特种设备无捐检测人员考核与监督膏理 规即 3术语和定义 GBT12604.1-12604.6规定的,以及下列术语和定义话用于BT4730的木都分。 3.1 公称得度I nomina山hickness 受检工件名义厚度。不考送材料制產信差和加T减薄: 3.2 透原罩度W民et女nted thickness 射线税射方向上材料的公你厚度。多层透繁时,透厚变为通过的各层材料公称厚度之和。 T
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6/T4730.1一200 3.3 工件至散片望离b object-to-ilm distane买 沿射线束中心制定的工件受检部位封线源脚表面与改片之阿的距离。 3.4 射线薄至工件距离f和urce-to-object distance 铅射线束中,心剃定的工件受检部位战源与受检工件迁双表面之间的距离。 15 焦距F【ocal distance 悟射线束中心周定的射线溪与胶片之间的E离。 3.5 射拔源尺寸d source size 射线源的有效焦点尺寸, 37 管子直径D, externul dinmeter of the pipe 管子的外径。 3.8 图形缺陌round faw 长宽比不大于3的气孔,夹養和夹鹤等缺陷。 3.9 条形缺陷stripy门aw 长宽比大于3的气孔。夹清和夹鹤等缺陷, 3.10 设照潭度比K ratlo of ma%,and min.penetrated thickness 次透風长度范围内射线威穿过母材的最大厚度与最小厚度之比。 3.11 小径管small diameter tube 外直径D.小于成等于00mm的管子 312 底片评定范混im evaluation scope 木部分规定底片上必须戏调扫评定的范围。 3.13 缺陷评定区defect evaluatio阳ooe 在质量分级评定时,为评阶缺路毁量和密处程度而设量的一定尺寸区域。可以是正方形或长方形。 3.14 短丙标准试块ultrasonic calibration block JB/T7303规定的用于短声仪攀探头系统性能校准和检测校准的试块。 3.15 短声对比试块trusonic reference block 用于翅声检测校准的试块。 3.16 密集区缺陷a cluster时naw 8
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用/T4730.1-2005 在变光屏扫滞线相当于0m声程范图内同时有5个成5个以上的缺席反射信号:或是在S0mm× 50mm的检测面上发现在同一深度范国内有5个或5个以上的缺陷反射信号。其反射渡骊均大于某一特 定背量快路基准反射波幅。 3.17 由缺陷引起的庭波降任量BC/BF(dB)loss of back reflection caused by flaws BG/BF(dB) 在靠近缺陷处的无缺名完好区城内第一次底波幅度BG与缺陷区蚁内的第一次底被幅度BF之比, 用声压装(B)值来表示, 3,18 基准灵敏度和妇立灵整度basic sensitivit灯nd scanning sensitivity 基准灵敏度一般指的是记录灵敏度,它通常用于缺陷的定量和缺陷的等级评定。扫查灵敏度测主要 指实际检测灵敏度。 319 缺陌白身高度flaw height(thru-wall dimension) 缺陷在峡厚方向的尺寸, 3.20 聚焦探头focusing probes 采用透镜式、反射式和曲面品片等聚斯方法使拉出波束会聚以费高检调灵线度的因声绿头。 3.21 端点行射tip diffraetioo 超声被在传掃过程中,当皮阵面通过就隋时,波珠面会饶缺席边缘弯由,并经周心展行。这种现象 称之为椭点行射。 3.22 瑞点最大反射被xm国n tip re小cted wave 半缺南的州部片波的极度达到最大时(也即峡陷装部可波峰值开斯降落前瞬时的幅度位黄),接可 被称为缺隋端点最大反射波。 3.23 国波动态波型echodynaric patterr西 动志被利是探头移动距离与相应缺商反购体回波波杯变化的包络线, 324 相关显示relevant indicatio阳 整粉检剩时由缺陷(裂纹,未格合,气孔,炎浇等)产生的漏磁场吸附磁粉形成的蓝报品示,或漆 透检测时由缺路产生的漆透剂显示,通书称之为相关楚示。一极也叫做成陷显示。 3.25 兼相关显示non-relevant indicution 由登路戴面突变以及材料磁导率差异等原因产生的滑磁场段附微粉形成的磁瓶生示,成是油于加工 丁艺、雾件结构、外形减机候根伤等所污引起的橡透剂显示,通称为非相关显示。 3.26 伪量示【alse indication 不是由漏髓场吸附磁粉形成的醚痕显示,也川假量示。 3.27 初线猪场强度tangential m厚netie field建rength
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B/T4730.1-2005 平行于被检工件表面的雪备强度分量。 3.20 交叉话罐ros6doke 在同一平面《成曲面)上,由具有一定相位差(不等于0心或18r》而且相互交叉成一定角度(不等 于心成:T》的两相正弦交变场相互叠加而在该平到(成曲面》上产生妃转造场的磁粉检测设备。 329 环境可见光nvironment visible light 在帝区,属光展射下从工件表面测得的可见光照度。 330 背景background 渗透检测时。村托液进剂最示的工件表面,一校是覆莹屋像茶的表面,也可以是自然表面。 3.31 建假置示alse indication 由于豫透剂污染等所引起的渗透剂显示。 3.32 评定rvaluntion 对观襄到的速透相关显示进行分析,确定产生这种显示的原因及其分类过程。 3.33 涡流检剥歧属ddy current coll 祸流检测时,外穿过式线围、内插式线圈和啦置式线睡的统称。 3.34 故量式镜圆arobe coll 战置式线亚是放置于被检试件表面上实店校测的线严。可以是单线圈,也可以是双线圈;可以接成 绝对式,也可接成差动式(自比差动、他比差动》;可以敏成宾形,平面形和点状等形状。 3.35 缩饱和装量magnetle saturatio加】em 是指在被检工件上植加强造场,使工件在核栓调区域饱和陆化的装置。 3.36 远场涡流校满remote field eddy current testing 一种穿透金属管壁的低期闲汽检考技术。 1.37 流检测探头eddy current probe 用于徽的和接收祸流信号的装置。 4使用原则 41概送 41,1应根据受检承压设备的材质,结构、制造方法、工作介质、使用条件和失效模式,货计可能产生 的缺陪种类、形状、部位和方向。选择适宜的无相检测方法。 4.1,2射线和拉声检满主要用于承压设备的内部缺陷的检调:碳粉检制主要用于铁鹭性材料制承压设备 的表面和近表面缺隋的检测:渗透检测主婴用于非多孔性金履材料和非金属材料制承压设备的表面开口 缺陷的检调:锅流检调主要用于导电金属材料闲承压设备表面和近表面缺常的检测。 41.3快磁性材料表腐检测时,宜采用磁粉检洲
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JB/T4730.1-2005 4.1.4当采用两种或两种以上的检测方法对承压设各的同-一部位进行校测时。应按各自的方法评定毁 别 4,1.5果用同种检剩方法按不同检测工艺进行检测时,如果检测结果不一致,应以危险度大的评定级别 为准。 4.2射线检测 4.21射线检调能确定铁陷平面授影的位置,大小,可孩得缺哈平面图像并能据此判定缺黯的性质。 422射线检撕适用于金属材料制承压设备熔化得对接焊接接头的检测,用于制作对接焊接接头的金 属材料包括碳素钢、低合金网。不锈酮、钢及铜合金、韶及铝合金、然及然合金,象及银合金。射线 检测不适用于哦件、管材、棒材的检测。丁型得接接头、角焊缝以及看焊层的检测一般也不采用射线 检测。 423射线检测的穿透厚度,主要由射线能重确定,参见表1。 表】不同射域源粒测的厚蜜范国 透就厚度W《A日级) 射线词 透L厚度W(AB级) 射线源 的 X射线300kV门 G40 Cm-60 40-20 X射线V ≤0 X(IMeV-4Mev) 30=200 8e75 10-40 XH线D-4V-12kV 50=400 Ir-192 20、100 X议>12kV) 2知 42.4当成用?射线開相时,宜采用高操度噪声比〔T1或T2)胶片:背应用高能X射线甄相时,应采 用高柳度课市比的胶片;对于R。≥540MP凸的底强度材料对接坪接接头斜找校测。也成采用高桃度噪声 比的胶片。 42.5射线粉剩的具体要求应释合B/T47302的规定, 43租声轮测 43,1短声检制通常能确定缺陷的位置和相对尺寸。 4,32短声检适用于板材、复合板材、戴钢和低合金钢假件,管材、棒材、爽氏体不锁钢银件等承压 设备原材料和琴部件的检测,也话用于承压设备对接焊接接头、T数博接接头、角焊缝以及堆螺层等的 检测。 4,3.3采用短声直斜射法检国内部缺路。不同检对象相咬的超声厚度测稳用见表2。 裹2不问栓测对象相应的范声厚度检测范圈 细声按利对象 遗用的厚度范利 m 质家钢,匠合金钢,德及镍合金板材 每材为6-20 解及郁合金和钛及镇合会板材 军度26 碳明,虹合全蜗最件 厚度61000 不辆钢、钛及铁合金、船及绍合金、偏及保合金复合板 基板限度6 碳粥,怎合金闲式相解管 外径为12=0.壁厚2 10
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8/T4730.1-2005 表2续) 超声格(对象 话用的票度范国 mm 贵氏体不销闲天境网管 外经为12-00.壁厘为2-35 装钢,低合金钢螺忙件 直径>M36 全梯化婴用财楼想接接头 母材厚度为6~00 解及射合金制压力容养对接织接接头 修材潭度己8 仕及钛合金制活力容带对接御推接头 号材厚度8 碳钢、任合会钢乐力警道环焊缝 绿厚40.外轻为边=1号 发竖厚为40一6。外径159 肥及佣合会接究开馔 使厚250,外经为0-159 减边厚为50-票,外检≥159 奥氏体不锡料接果技废头 缪材佩度为0-50 434屈声检脚的耳体技术基求应符合旧/T4730.3的规定。 44础粉检测 4.4.1登粉检脚通#能确定表面和近表面被附的位置、大小和形状。 4.2磁物检渊适用于铁篮性材料制饭材,复合板材、管材以及最件等表和近表面缺陷的怜测:也适 用于株皙性材料对接焊接接头,T塑碍接接头以及角焊缝等表面和近表面缺常的校测。磁粉检测不适用 非蚊猫性材料的检测。 443磁粉检测的翼体技术要求议符合BT4720.4的浅定: 4.5渗透检测 45.1渗透粉测通常能确定表开口缺常的位骨、尺寸和形状。 4,52德透检割话用下金国材料利和非金属材料板材.复合板材,最件、符材和焊接接头麦面开1缺陷的 检测。渗透检测不活用多孔性材料的检测。 4.5.3擦透检划的具体技术要求成符合BT47305的撬定: 4.6涡流检测 4.6.1泻流检满通意能确定表面及近表面铁席的位紧和相对尺寸。 46.2端流检测适用于学电金属材料和焊接接头表面和近表向缺陪的检渊。 46.3泻流检测的其体技术安求应存合JB/T47305的线定。 4了离发射检测 4了.1声发射校剧通常用子霜定内部或表时存布的活性执宿的强度和大数位霞, 4工.2声发射检刻话用于对承压设备在载过程中进行的局都或整体校葛。也可用于在线监测。 4.1.3声发射检划的具休要求应符合CB/T18!2的有关规定: 4.BX射线实时戍像检测 4.81X射线实时成像检测通常用于实时确定缺名平面投影的位置、大小以及缺陷的性质。 4.⑧.2X射线实时成像检剧适用于承压设备对接浮接接头的实时快速检测。 4.8.3X射线实附域燥检测的具体要求应符合GBT19293成GB17925的有关规定。 12
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JB./T4730.12005 5一毅要求 5.1无提检刚机构 51.1透行承压设备无损检调的机构应茂BT4730的本部分的规定制定出符合要求的无枫检测工艺规 程。 51,2检调记录和报告应准确。完整,并经相应责任人层签字认可。 5.1.3检测记录和报告等保存期不得少于7年。7年后,若用户需要可转交用户保管。 51,4检测月仪器和设备的性能应选行定期检定(校雀》,并有记桑可查。 5.2无极检测工艺规程 5.2.1无损检阁工艺规晷包括通用工艺规程和工艺卡。 5.2.2无损检周通用工芝规程 5.2,2.1尤相检测通用T艺规程应根据相关法规、产品标准,有美的技术文件和BT730的本部分的 要求,井针对检测机构的特点和检测能力进行偏制。无根检测通用工艺规视程应插盖本单位《制造、安装 或检测单位)产品的检测范用 52.22无招松测通用上艺规程至少应包括以下内容: a》适用用: b)引用标准,法规: c)检测人员资格: d)检测设备、器材和材料: e》检测表而制备: )检测时机: g)检调上艺和检制技术: h)检测结果的评定和匠蓝等级分类: )检调测心录、报作和资料存将: 」】缩附(级别》、审核《级别》和批准人: k)制定日期。 52.2.3无担检周通用亡艺规程的编制、核及批准应符合机关法规或机痱的规定。 52.3无糊检和工艺 523.【实施无损校测的人员应按无烈校测艺进行操作。 52.3.2无相检测工艺卡夜酰据无横检d用工艺规型、产品标准、有美的技术文件和B/T4730的本 部分的要求编制,一觳应包折以下内容: )1工艺卡编号: 】产品名称,产品鳍号。制造、安装或检粒绪号。承乐设备的类具,规格尺寸,材料脚号、材质 热处理状老及表面状态: ©》检渊设备与群材:设备种类、型号、凭格尺寸、检测附件衣检制材料: d)检测工艺参数:检满方法、检渊比剑,检测部位、标准试块或标准试样(片): 。】检测技术要求:执行标准和险仪圾别: f)检渊程序: B)检测部位示意图: h)编制(级判)和审核〔级料)人: i)制定日期。 52,33无掏检测工艺卡的编制、审枝应符合相关法规或标准的规定。 13
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