8 中华人民共和国行业标准 JB/T4730.22005 代替B4730一1994部分 承压设备无损检测 第2部分：射线检测 Nondestructive testing of pressure equipments- Part 2:Radiographic testing 200507-26发布 2005-11-01实施 国家发展和改革委员会发布
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8/T4730.2-2005 目 次 范用一 一23 2规范性引用文件mmmm 23 5承压设奇熔化规对接焊接接头射统检阁疑情分极 33 6派压设备管子及水力竹道济化婴环利向对接翠接接头转找检别质量分级一一……一-8 7射线怜测报告一一…一 附录A(资料性刚录》业线校片系统的特性粉标 42 附录B(资料姓附录)属度计（光学体度计】定期校验方法一 一43 新录C(资料性附录)奥烟透照方式示意图 粥梁D《资料性附录》环向接州接接头透照次数确定方法… 47 制水E(规花性附液》集点尺寸计算方法- 54 附录P(规范性对录】专像质计的W式和规格一 55 附梁0（规花性明录》格接标记的摆放位置一 -56 附来什（规他性明液》对化试块的旧式和规格一…一一…一一…58 21
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a/T4730.2-2006 前 言 BT47301-47306一205《承压设备无叔检训》分为六个部分： 一第1部分：通用要求： 一第2部分：射线检测： —第3部分：超声校测： 一—第4那分：磁粉检测： —第5都分：漆透检渊： 一第6都分：阁浅检渊。 本部分为1B/T4730.1-47306一2005的第2部分：射线检测。木部分主要根据国内多年的研究成果 和应用经验，参考队洲EN标准、ASME《锅炉压力客晷规范》第V在、S标准，以及行业反意见述 行修订。本都分与旧4730一1994相比主零变化如下： 1. 对射线黑相枝术等级的指标重新刻定，增加了不同情况下透择射线州相技术等级的规定。 2.对不同透照厚度、不问透厘方式射找片的像质针灵敏度要求进行了修订。灵度有所提真 3. 增加了工业财线胶片系统分类的内容，将胶片分为T1,T2,T3,T4四类。增加附录A(资料 性阳绿》，对胶片系统的特性指标是出了婴求。 4.在附录D(资料性附聚)中增加了根据不同K值要求，确定相应环向对接接接美透照次数的 附表。 5. 对原标淋授定的不同线等适川的底片星度范用进行了修「，底片黑度范周布所是高。 6,对小径管环对接爆接接头的透布置和次数的内容进行了订。 7. 增加1了Se75射线源用的规定。 8. 增加了光出线的内容。 9. 对观片灯亮度的有关要求选行了修成。 10,对翻，制及训合金，铝及铝合金，纹及仗合金不同不度允许的最高作电压图进行了修打。 山，增加黑度计（光学密度计）内容。在常款B(资料性粥录)中对黑的定期校岭方法作了明 确规定。 12.增加了镍及象合金。铜及铜合金制承压设备对接得接接头射线检渊冠分级内容。 3.增加了钢、镶、铜及铜合金、铝及阳合金，钛及帖合企材承压设备作子及乐力竹道环向对接得 接接头的时线检测质显分领内容。 本部分的附录E、附录F,附录G和附录H为规范性附录。刚录A,别录B、对录C利和附录D为资料 性附录。 本都分由全国的炉压力容器标准化技术委员会《SAC/TC262)是出。 本部分h全国彬炉压力容密卷标准化技术委员会《SAC/TC262)妇口。 木部分主要起草人：强天精、袁棺、郑世才、李伟、陈文虎。李衔、何详云。 22
JB/T4730.2-2005 承压设备无损检测 第2部分：射线检测 1范围 BT4730的本都分规定了承压设备金网材料受压元件的熔化界对接接头的X射线和y战检测技 术和质量分级要求。 木部分适用于承属设备受压元件的造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用丁制作焊接 接头的金属材料包括碳素解、低合金钢、不锈钢、铜及削合金、铝及铝合金、铁及怯合金，德及镶合金。 木那分规定的射线橡哪技术分为三级：A级一低灵敏度技术：AB级—中灵敏度技术：B级 高灵敏度技术。 禾压设备的有关支承件结构件的对接焊接接头的线检测。也可参照使川 2规范性引用文件 下列文件中的条款，通过BT730的木部分的引用而藏为本部分的条款。凡是礼日擲的引用文件 其随后所有的修改单（不包杆误的内容）或修订版均不语用于木部分，然而。鼓奶根器本福分达成协 议的各方研究是价可使用这些文件的最新版本。凡是不注计别的引用文件。其最新板本适用于本福分。 GB11533-1989 标准对数视力表 GB16357-1996 工业X射线探伤放射卫生防护材标阳 GB18465-2001 T业y射浅探的效射卫生动护要求 GB18871一2X02 屯离伍射防护与相射源安全礼本标准 G/T19384.1一2003无州检期丁业找肌相胶片第1部分：工业射线胶片系统的分类 GB/T1384.2一2003无相检测工业转找肌相胶片第2部分：川参考值方法控制胶片处理 HB7684-2000 射线照相用线型像质计 JB/T4730.1 承压设备无损协测第1部分：通用要求 JB/T7902-1999 线星像质1f JB/T7903-1999 工业射线肌相底片煤片灯 3一般要求 射饿检测的一般要求除应符合BT4730,1的有关规定外，还应符合下列规定。 3.1射线检测人员 3.1,1从事射线检测的人负土岗筒应述行西射安全知识的培训。并取得战射工作人员证 3,1,2射线检测人员术好矫正或经场正的近：距)视力和远{距》视力应不低于5.0（小数记录值为10. 测试方法应符合GB1川533的规定。从事评片的人员应每年粒查一次视力。 3.2射线胶片 3.21较片系饶散風GBT19384.1一2003分为四类，闻T1,T2,T3和T4类。T1为最高类别，T4为 最低类别。胶片系统的特性指标见附录A(究料性附录)。胶片制造离应对所生产的校片进行系统性能测 试并提供类别和参数。胶片处理方法。设务和化学药剂可按黑GBT19384.22003的规定，用胶片制威 23
6/T4730.2-2005 商提供的预先琴光胶片测试片进行测试和控制。 3.22A级和AB级射线检美技术应果用T3类成更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用T2类成 更高类别的胶片。胶片的本张灰雾度应不大于03。 3.23采用？射线对裂纹敏感性大的材料进行找检测时，应采用T2类或更高类别的胶片 3.3观片灯 331规片灯的主要性能应蒋合JBT7903的有关规定。 3.32鼋片灯的最大亮度应能满足评片的要求， 1.4黑度计（光学密度计） 341慰度计可到的最大黑度应术小于45，测量值的凝差应不短过±D5。 342题度计至少每6个月校羚一次。校龄方法可参延附录B(资料性附录】的减定选行。 35增感屏 射找检调一般应使用金属增感屏或不用滑越屏。增感评的选用应符合表1的规定。 表1增盛屏的材料和厚度 射线源 雪洋 材料 华度。mm 材料 坏度。 X找（≤缘v) 舒 川成≤0国 的 ≤003 X线 轿 ≤0.10 奶 写015 (>0V-150wV2 X汽 针 00m-a15 奶 02-0.15 (>5mV-25wV: X射找 舒 000w0.2 舒 102-02 (2RV-500V A银0.@-02 At域00m-02 5o-75 舒 A非刻，目级 的 AB很，B领 01-0.2* Q1w02 Aw0.02-Q2 A级002-0.2 Ir-192 铅 AB领，目级 奶 AB级，B透 01-0.2" 01=02 削收铜 025-7 削域到 025-0.7 Co-tD (A级，AB经) 05m20 船(A皱，AB级》 Q5w20 X射线 倒峻制 025-07 剂试 025-07 (IMeV -4MeV 纷(A疑，AB经》 05-20 A维，B城) 05-2.0 铜，解 G X射线 到，成但 飞1 们 G05 fs4eW-12MeW】 新(A级、AB级》 u5-1.0 铅(A维，AB粱) 05w10 X射线(>12MeV》 和 61 不州匠屏 】)如果AB级，B城使州样屏小下或等下Qn厚的直字包装滚片，应在T作和胶片之同加Q07-05m 厚的如船屏 3.6像质计 3.81酱片影像质量采用线型像质计测定。线梨像质计的型号和规格成符合B/T902的提定，JBT 24
UB/T4730.2-2005 7902中未包含的注径、线号等内容，应符合HB7684的有关规定。 35.2像质计的材料、材料代号和不同材料的惊质计适用的工件材料艺围应奢合表2的规定。 表2不同材料的像质计适用的材转范国 策质计材科代号 Fe n Cu 像质计材料 装飘议典氏体不锈钢 牌一格合金 T业悦钻 工量的铝 3号纯撕 适用材料被用 碳懈。低合金倒、不锈保 镍、集合金 :。钛合金 解。铝合金 铜，钢合金 3.7表面要求和射线检测时机 3.1.1在射战检科之前，对接焊接接头的表庇应经外观检测并合格。表面的不挑喇状态在底片上的影像 不得盖或干扰缺常影像，否网成对表面作话当锋整。 11,2除非另规定，找检调应在蝶后进行。对有廷迟裂纹倾向的材料，至少成在焊接完成24幼进 行射线检测。 3.8射线检测技术等级选择 3.81射线检测技术等继选择应符合制造，安装，在用等有关标准及设计图样规定，承压设备对接爆接 接头的制造，安装。在H时的战检测。般应采用AB毅射找检测技术进行检测。对重要设备，结构， 特殊材料和特殊接广艺别的对接煤核接头。可采川B级技术进行枪测 3.日2由结构，环境条件，时战设备零方面限制，换的某些条件木能满足AB级《或B皱》射线 检测技术的要求时，经检美方技术鱼武人批准，在采收有效补密情域（例如选州更高类别的校片》的们 提下，底片的像质计灵城度达到了AB颜〔成B级)射线冷测技术的规定，期可认为议AB线（或B 级》射线检斯技术进行了检刻. 王8.3承压设斧在川校测中，山结构。球境.射线设各等方血限制，栓渊的某些条作不能浦足AB线 射钱校期技术的要求副，经检测方技术负旋人批准。在采裂有效补偿精能（例如选用史高类别的咬片） 可果用A锁校术迷行射线校制，成同时采用其他无拟检道扩法透行补充检渴， 3.9辐射防护 3.8.1放射卫生防护克符合GB18871,GB16357和GB18465的有关线定 3.9.2现场进厅X射线校渊时，成按GB6357的规定刻定控区和管理以、设置等告献志。检测，作 人员佩带个人礼址计，并得带剂址纸警仪。 3.9.3现场进行Y射视检满时.成按GB1465的规定划定控制（和验将区.设置等告标志，检渊作业 时，应限绕炉制以边界测定瓢财水平。检谦门作人员应间语个人剂量计。并携带剂量报警仪。 4具体要求 4.1透辆布置 41.1透照方式 京根据件持点和技术条件的要求法样适的请方式，在可以实篷的情况下应达用单壁透方式 在单喂透肌不能实蛛时才允许采州效壁透展方式，典型的透照方式参见附录C(货料件对录 41,2透风方向 透时射线束中心一般应垂直指向透机区中心，需裁时也可选月有利丁发凳缺路的方判透照。 4.1.3一次透照长度 一次潘题长度应以透嫻厚度比K进行控制，不司级别射线检穗技术和不司类亚对接焊接接头的透题 厚度比应荐合表3的规定，整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参明影录D(资料性附录)的曲线 图确定。 25
JB/T4730.2-2005 表3允许的透照厚度比《 射线柏测校术城刷 A银。AB级 B级 纵向焊孩接头 K61.0他 K≤101 环向焊视接 Ke1,19 K6106 1)对100n心D,云4Om的环向对接规接接头（包括曲米相同的由的规花接头上，A数。AB址允并采用K≤ 12. 4,1.4小径管环向对接焊接接头的透飘布置 小径管采用双底双影透照布置，同时情足下列两条件时应采儿候斜透照方式椭风成像： )T(壁厚》≤8m: b)g《焊缝宽度)≤D4, 椭顶成像时，酸控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距》在1倍焊雄宽度左右。 不满足上述条件或锅图成橡有闲堆时可采用垂直透照方式重叠成像。 4.1,5小径管环向对接接头的透肌次数 小径管环向对接焊接接头1O0%险测的透照庆数：采用慎斜透阴椭圆成像时，当T/D,02时，相 所9透丽2次。当T/D,>012时，相隔120或60透洲3次。垂直透联质叠成像时，一极应杯照120 或60透肌3次。 由干结构原因不能进行多次透照时，可采用辉圆成像或重叠成像方式透属一次，装于透照一次不能 实现焊域全长的00隔检测，此时成深取有效措店扩大求陷可检出范丽，并保证底片评定范周内黑度和 灵敏度满足要求。 42射线能■ 421X射线暖应尽量选用较（的管电压。在朵用较高管电压时，成保正透学的零光景。图1烧定了 不同材料。不同透照厚度允许采用的最高X射线管电压。 400 100 30 40 20 34567910 030405给0抢10加 速门界度解，n 注：一制及圳合金；2的：一铁及致合金：4们及绍合金， 里」不问透照厚度北许的X射线最高透丽管电压 26
J6/T4730.2-2005 对截面耳度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用短过图】规定的X射线管电 压。但对铜、铜及铜合金材料。许电压增量不应超过5水V;对针及使合金材料。管电压增量不应过 4张V:对铝及铝合金材料，存电压增量不应超过30V, 4,2.2Y射线颜和高能X射线适用的透M厚度范围应符合表4的规定。 采用源在内中心透肌方式，在保证像质计灵嫩度达到4,1山3要求的竹超下，允许Y射线最小透照厚 度取表4下限值的12。 采用其他透纸方式，在采收有效补偿措流并保证像质什灵敏度达到4山3要求的前提下，经合同各 方同意，A级、AB领技术的r192源的最小透厚度可降至10mm.Se75郑的最小透照厚度可降至5mm 表4y射线漂和能量[MV以上X射线设备的遭邪厚度蔬图《钢、不锈铜、镶合金等) 财线源 速机厚度W。m A纵，AB 目级 50-75 10-4的 2a14w40 e12 20=100 220-90 Co-60 340-200 260.150 X射线(IMeV-4V) 2a30-200 350=10 X射线(>4MeV-I2eV1 0 280 X找(>12V) 20 =10的 43 射线源至工件表度的最小距离 4.3.1所透用的刺找源至工件表面的距离∫底满足下述要求： —A级射找检测技术：f75d,” —一AB级射线检测技术：∫310d,b 一B级射线检渊技术：了≥15db奶 图2是A级和B级射线检美技术确定F的诺模图，图3是AB级射线检潮技术确定∫的诺模图，有 效焦点尺寸d按那及E(规范性附漫)的规定计算
JB/T4730.2-2005 E 福 2830 I 1K0 20 10 50 吃 - 2 困2A级和B级射统检满技术确定焦点至工件表而距离的诺模困 28
B/T4730.2-2005 3M0 3 201 08号 10 2000 100n 5 1 20 3 5 2D 4 5 10 5 2 图3AB级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺锁围 43.2采用原在内中心透赋打式周问修光时，只要得判的底片质量符合4.12和4.13的要求，f值可 以减小，日威小值术克划过规定值的50% 4.3.3果用源在内单衰透照方式时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.113的要求，「值可以减小， 但碱小值不应盛过规定值的20%， 4.4得光里 4,4.1X射线肌相，当集历为70mm时，堡光量的推存值为：A级和AB级射线检制技术不小于 15mA·mi曲：B拟射找检到技术不小于20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对要光址的推荐值 选行换算。 44.2采用y射钱透照时，总的喝光时间应不少于缩滋等往遂所需时问的10倍。 45曝光向线 45.1对每在用射线设备与应作出经律校测材料的曝光前线，依据豪光曲线确定翠光参数。 45.2制作曝光曲线所采用的胶片，增感屏、焦臣.射线幽量等条件以及底片应达到的灵维度、黑度等 参数均应符合本部分的规定。 45.3对使用中的喝光曲线，每年至少应校验一次。射找设备更校重要部件或经较大修理后应及时对爆 光临线遗行校验成重新制作。 29