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科学出版社:《半导体材料》课程教学资源(学习资料)复习资料

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(1)无机物半导体:元素半导体(Ge,Si);化合物半导体:二、六族,三、五族。 (2)有机物半导体
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半导体材料复习资料 半导体材料概述 从电学性质上讲(主要指电阻率) 绝缘体1012-1022。.cm 半导体106-1012Q.cm 良导体≤10-69,cm 正温度系数(对电导率而言 负温度系数(对电阻率而言) 半导体材料的分类(按化学组成分类) 1)无机物半导体:元素半导体(Ge,Si);化合物半导体:二、六族,三、五族。 2)有机物半导体 能带理论(区别三者导电性) 金属中,由于组成金属的原子中的价电子占据的能带是部分占满的,所以金属是良好的 导体。 半导体由于禁带宽度比较小,在温度升高或有光照时,价带顶部的电子会得到能量激发 到导带中去,这样在导带中就有自由电子,在价带中就相应的缺少电子,等效为带有正电子 的空穴,电子和空穴同时参与导电,使得半导体具有一定的导电性能 般对于绝缘体,禁带宽度较大,在温度升高或有光照时,能够得到能量而跃迁到导带 的电子很少,因此绝缘体的导电性能很差 半导体结构类型: 金刚石结构(SiGe):同种元素的两套面心立方格子沿对角线平移14套构而成 闪锌矿(三、五族化合物如GaAs):两种元素的两套面心立方格子沿对角线平移1/4套构 而成 纤锌矿 对禁带宽度的影响 对于元素半导体: 同一周期,从左到右,禁带宽度增大 同一族,原子序数的增大(从上到下),禁带宽度减小 锗、硅的化学制备 硅锗的物理化学性质比较 高纯硅的制备方法 各种方法的具体步骤以及制备过程中材料的提纯 高纯储的制备方法及步骤 二、区熔提纯

半导体材料复习资料 半导体材料概述: 从电学性质上讲(主要指电阻率) 绝缘体 1012—1022 Ω.cm 半导体 10-6—1012 Ω.cm 良导体≤10-6Ω.cm 正温度系数(对电导率而言) 负温度系数(对电阻率而言) 半导体材料的分类(按化学组成分类) 1)无机物半导体:元素半导体(Ge,Si);化合物半导体:二、六族,三、五族。 2)有机物半导体 能带理论(区别三者导电性) 金属中,由于组成金属的原子中的价电子占据的能带是部分占满的,所以金属是良好的 导体。 半导体由于禁带宽度比较小,在温度升高或有光照时,价带顶部的电子会得到能量激发 到导带中去,这样在导带中就有自由电子,在价带中就相应的缺少电子,等效为带有正电子 的空穴,电子和空穴同时参与导电,使得半导体具有一定的导电性能。 一般对于绝缘体,禁带宽度较大,在温度升高或有光照时,能够得到能量而跃迁到导带 的电子很少,因此绝缘体的导电性能很差。 半导体结构类型: 金刚石结构(Si/Ge):同种元素的两套面心立方格子沿对角线平移 1/4 套构而成。 闪锌矿(三、五族化合物如 GaAs):两种元素的两套面心立方格子沿对角线平移 1/4 套构 而成 纤锌矿 对禁带宽度的影响 对于元素半导体: 同一周期,从左到右,禁带宽度增大 同一族,原子序数的增大(从上到下),禁带宽度减小。 一、锗、硅的化学制备 硅锗的物理化学性质比较 高纯硅的制备方法 各种方法的具体步骤以及制备过程中材料的提纯 高纯锗的制备方法及步骤 二、区熔提纯

分凝现象,平衡分凝系数,有效分凝系数,正常凝固 平衡分凝系数与杂质集中的关系P20图2-1 BPS公式及各个物理量的含义;分析如何提高分凝效果,如何变成对数形式 影响区熔提纯的因素 区熔的分类,硅和错各采用什么方法 影响区熔的因素: 1)熔区长度 次区熔的效果,1越大越好 极限分布时,1越小,锭头杂质浓度越低,纯度越高 应用:前几次用宽熔区,后几次用窄熔区。 2)熔区的移动速度 电磁搅拌或髙频电磁场的搅动作用,使扩散加速,δ变薄,使kef'与Ko接近,分 凝的效果也越显著 凝固速度f越慢,kef^与Ko接近,分凝的效果也越显著 3)区熔次数的选择 区熔次数的经验公式 n=(1-1.5 4)质量输运 通过使锭料倾斜一个角度,用重力作用消除质量输运效应 锗的水平区熔提纯 根据提纯要求确定熔区长度、区熔速度和次数;清洗石墨舟、石英管、锗锭:将舟装 入石英管、通氢气或抽真空,排气;熔区的产生:高频感应炉(附加电磁搅拌作用);区 熔若干次 硅的悬浮区熔提纯 采用悬浮区熔的原因:高温下硅很活泼,易反应,悬浮区熔可使之不与任何材料接触 利用熔硅表面张力大而密度小的特点,可使熔区悬浮 质量输运问题的对策:硅的熔体密度小,质量迁移向区熔方向进行。因此将熔区从下 向上移动,靠重力作用消除质量迁移 ◆1什么是分凝现象?平衡分凝系数?有效分凝系数 ◆2写出BPS公式及各个物理量的含义,并讨论影响分凝系数的因素。 ◆3.分别写出正常凝固过程、一次区熔过程锭条中杂质浓度Cs公式,并说明各个物理量 的含义 ◆4说明为什么实际区熔时,最初几次要选择大熔区后几次用小熔区的工艺条件

 分凝现象,平衡分凝系数,有效分凝系数,正常凝固,  平衡分凝系数与杂质集中的关系 P20 图 2-1  BPS 公式及各个物理量的含义;分析如何提高分凝效果,如何变成对数形式  影响区熔提纯的因素  区熔的分类,硅和锗各采用什么方法 影响区熔的因素: 1)熔区长度 一次区熔的效果,l 越大越好 极限分布时,l 越小,锭头杂质浓度越低,纯度越高 应用:前几次用宽熔区,后几次用窄熔区。 2)熔区的移动速度 电磁搅拌或高频电磁场的搅动作用,使扩散加速, δ 变薄,使 keff 与 Ko 接近,分 凝的效果也越显著 凝固速 度 f 越慢,keff 与 Ko 接近,分凝的效果也越显著 3)区熔次数的选择 区熔次数的经验公式 n=(1-1.5)L/l 4)质量输运 通过使锭料倾斜一个角度,用重力作用消除质量输运效应 锗的水平区熔提纯 根据提纯要求确定熔区长度、区熔速度和次数;清洗石墨舟、石英管、锗锭;将舟装 入石英管、通氢气或抽真空,排气;熔区的产生:高频感应炉(附加电磁搅拌作用);区 熔若干次 硅的悬浮区熔提纯 采用悬浮区熔的原因:高温下硅很活泼,易反应,悬浮区熔可使之不与任何材料接触; 利用熔硅表面张力大而密度小的特点,可使熔区悬浮 质量输运问题的对策:硅的熔体密度小,质量迁移向区熔方向进行。因此将熔区从下 向上移动,靠重力作用消除质量迁移  1.什么是分凝现象?平衡分凝系数?有效分凝系数?  2.写出 BPS 公式及各个物理量的含义,并讨论影响分凝系数的因素。  3.分别写出正常凝固过程、一次区熔过程锭条中杂质浓度 Cs 公式,并说明各个物理量 的含义。  4.说明为什么实际区熔时,最初几次要选择大熔区后几次用小熔区的工艺条件

三晶体生长理论基础 晶体生长的方式 2晶体形成的热力学条件 3晶体生长的三个阶段 4均匀成核,非均匀成核 5均匀成核过程中体系自由能随晶胚半径的变化关系分析;图3-2--P39,各种晶胚 的特点 6硅储单晶的生长方法 7直拉法生长单晶的工艺步骤p63 结晶过程中的结晶驱动力和溶解驱动力 结晶驱动力:结晶通常在恒温恒压下进行,相变向自由能减小的方向进行,若体积自由 能大于表面能,就是结晶驱动力,若相反,就是熔解驱动力 晶体的外形从能量的角度:晶体的平衡形状是总界面能最小的形状。 试述结晶相变的热力学条件、动力学条件、能量及结构条件。 什么叫临界晶核?它的物理意义及与过冷度的定量关系如何? 形核为什么需要形核功?均匀形核与非均匀形核形核功有何差别 四、硅锗晶体中的杂质和缺陷 1硅锗中杂质的分类 2杂质对材料性能的影响 3直拉法单晶中纵向电阻率均匀性的控制方法 4位错对材料性能的影响 5位错对器件的影响 五、硅外延生长 ◆名词解释 同质外延异质外延直接外延间接外延,正外延,反外延,自掺杂,外掺杂 ◆外延不同的分类方法以及每种分类所包括的种类 硅气相外延原料 硅气相外延分类 用SCL4外延硅的原理以及影响硅外延生长的因素 抑制自掺杂的途径? 如何防止外延层的夹层? 硅的异质外延有哪两种 ◆在SOS技术中存在着外延层的生长和腐蚀的矛盾,如何解决? SOI材料的制备方法有哪些?各自是如何实现的? 六、三五族化合物半导体 ◆什么是直接跃迁型能带什么是间接跃迁型能带?硅储属于什么类型,砷化镓属于什 么类型?

三.晶体生长理论基础 1 晶体生长的方式 2 晶体形成的热力学条件 3 晶体生长的三个阶段 4 均匀成核,非均匀成核 5 均匀成核过程中体系自由能随晶胚半径的变化关系分析;图 3-2--P39,各种晶胚 的特点 6 硅锗单晶的生长方法 7 直拉法生长单晶的工艺步骤 p63 8 结晶过程中的结晶驱动力和溶解驱动力 结晶驱动力:结晶通常在恒温恒压下进行,相变向自由能减小的方向进行,若体积自由 能大于表面能,就是结晶驱动力,若相反,就是熔解驱动力 晶体的外形 从能量的角度:晶体的平衡形状是总界面能最小的形状。  试述结晶相变的热力学条件、动力学条件、能量及结构条件。  什么叫临界晶核?它的物理意义及与过冷度的定量关系如何?  形核为什么需要形核功?均匀形核与非均匀形核形核功有何差别? 四、硅锗晶体中的杂质和缺陷 1 硅锗中杂质的分类 2 杂质对材料性能的影响 3 直拉法单晶中纵向电阻率均匀性的控制方法 4 位错对材料性能的影响 5 位错对器件的影响 五、 硅外延生长  名词解释 同质外延,异质外延,直接外延,间接外延,正外延,反外延,自掺杂,外掺杂  外延不同的分类方法以及每种分类所包括的种类  硅气相外延原料  硅气相外延分类  用 SiCL4 外延硅的原理以及影响硅外延生长的因素  抑制自掺杂的途径?  如何防止外延层的夹层?  硅的异质外延有哪两种  在 SOS 技术中存在着外延层的生长和腐蚀的矛盾,如何解决? SOI 材料的制备方法有哪些?各自是如何实现的? 六、 三五族化合物半导体  什么是直接跃迁型能带,什么是间接跃迁型能带?硅锗属于什么类型,砷化镓属于什 么类型?

砷化镓单晶的生长方法有哪几种? 磷化镓单晶的生长方法 七、三五族化合物半导体的外延生长 MBE生长原理 写出下列缩写的中文全称 CVD, PVD, VPE, SoS, SOl, MOCVD, MBE, LPE, CBE, alE MLE 名词解释 气相外延液相外延 金属有机物气相沉积分子束外延化学束外延 燕发溅射 八、三五族多元化合物半导体 什么是同质结?异质结?异质结的分类有哪些? 什么是超晶格?势阱?势垒?量子阱?

 砷化镓单晶的生长方法有哪几种?  磷化镓单晶的生长方法 七、 三五族化合物半导体的外延生长  MBE 生长原理  写出下列缩写的中文全称  CVD,PVD,VPE,SOS ,SOI ,MOCVD,MBE,LPE,CBE,ALE ,MLE  名词解释  气相外延 液相外延  金属有机物气相沉积 分子束外延 化学束外延  蒸发 溅射 八、 三五族多元化合物半导体  什么是同质结? 异质结?异质结的分类有哪些?  什么是超晶格?势阱?势垒?量子阱?

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