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用微小变动量法计算X射线荧光分析中的理论基体修正

微小变动量法是X射线荧光分析中计算理论修正系数的一种成功的方法。用这种方法计算出基础理论修正系数后,可根据需要选择适当的消去项。本文应用作者编写的计算机程序,计算了熔融玻璃片试样的基础理论修正系数δij后,消去分析元素i及基元素氧两个修正项,得到熔融玻璃片试样中元素间的理论修正系数αi-j以及氧化物间的理论修正系数Aij。最后用所求得的理论修正系数,采用JIS(日本工业标准)模式,用比较标准法分析了6个铁矿石试样,获得较好的结果。
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