石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 晶体的X-射线衍射法进行物相分析 【实验目的】 1.学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理: 2.掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤: 3.给定实验样品,设计实验方案,做出正确分析鉴定结果。 【实验器材】 XD一2X射线衍射仪及配套计算机样品玛瑙体切片窗 按多品衍射原理,用衍射光子探测器和测角仪来纪录衍射线位置及强度,I一日曲线记 录衍射花样,进行晶体衍射实验的设备称为xry衍射仪。 X射线多品衍射仪由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射 数据采集、处理系统四大部分组成。下图示出了X射线多晶衍射仪的构成方块图。 计算机 系统 区射线 发生器 召样品 测角 测量记录 系统 图一D一2X射线多品衍射仪的构成 1.X射线管 X射线管实际上是一只真空二极管,它有两个电极:作为阴极的用于发射电子的灯丝(钨 丝)和作为阳极的用于接受电子轰击的靶(又称对阴极)。X射线管供电部分至少包含有 个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。由于总是受到高能量电子 的轰击,阳极还需要强制冷却。 当灯丝被通电加热至高温时(达2000℃),大量的热电子产生,在极间的高压作用下 被加速,高速轰击到粑面上。高速电子到达靶面,运动突然受阻,其动能部分转变为辐射能 以X射线的形式放出,这种形式产生的辐射称为韧致辐射。轰击到靶面上电子束的总能量只
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 晶体的 X-射线衍射法进行物相分析 【实验目的】 1.学习了解 X 射线衍射仪的结构和工作原理; 2.掌握 X 射线衍射物相定性分析的方法和步骤; 3.给定实验样品,设计实验方案,做出正确分析鉴定结果。 【实验器材】 XD-2 X 射线衍射仪及配套计算机 样品 玛瑙钵 切片窗 按多晶衍射原理,用衍射光子探测器和测角仪来纪录衍射线位置及强度,I~θ曲线记 录衍射花样,进行晶体衍射实验的设备称为 x-ray 衍射仪。 X射线多晶衍射仪由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射 数据采集、处理系统四大部分组成。下图示出了X射线多晶衍射仪的构成方块图。 图一 XD-2 X 射线多晶衍射仪的构成 1. X 射线管 X射线管实际上是一只真空二极管, 它有两个电极:作为阴极的用于发射电子的灯丝(钨 丝)和作为阳极的用于接受电子轰击的靶(又称对阴极)。X射线管供电部分至少包含有一 个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。由于总是受到高能量电子 的轰击,阳极还需要强制冷却。 当灯丝被通电加热至高温时(达 2000℃),大量的热电子产生,在极间的高压作用下 被加速,高速轰击到靶面上。高速电子到达靶面,运动突然受阻,其动能部分转变为辐射能, 以 X 射线的形式放出,这种形式产生的辐射称为轫致辐射。轰击到靶面上电子束的总能量只 1
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 有极小一部分转变为X射线能,靶面发射的X射线能量与电子束总能最的比率可用下面 的近似公式表示: e=1.1×10-9ZV(1.1) 式中Z为靶材组成元素的原子序数,V为X射线管的极间电压(又称管电压),以伏特 为单位。例如对于一只铜靶的X射线管,在30KV工作时,E=0.1%,而一只钨靶的X射线 管在100KW条件下工作时,也不过e=0.8%。可见X射线管产生X射线的能量效率是十分 低的,但是,目前X射线管仍是最实用的发生X射线的器件。 因为轰击靶面电子束的绝大部分能量都转化为热能,所以,在工作时X射线管的靶必须 采取水冷(或其他手段)进行强制冷却,以免对阴极被加热至熔化,受到损坏。也是由于这 个原故,X射线管的最大功率受到一定限制,决定于阳极材料的熔点、导热系数和靶面冷却 手段的效果等因素。同一种冷却结构的X射线管的额定功率,因靶材的不同是大不相同的。 例如,铜靶(铜有极佳的导热性)和钼靶(钼的熔点很高)的功率常为相同结构的铁、钴、 铬靶的两倍。 在晶体衍射实验中,常用的X射线管按其结构设计的特点可分为三种类型: (1)可拆式管一这种X射线管在动真空下工作,配有真空系统,使用时需抽真空使 管内真空度达到10一5毫帕或更佳的真空度。不同元素的靶可以随时更换,灯丝损坏后也可 以更换,这种管的寿命可以说是无限的。 (2)密封式管一这是最常使用的X射线管,它的靶和灯丝密封在高真空的壳体内。 壳体上有对X射线“透明”的X射线出射“窗孔”。靶和灯丝不能更换,如果需要使用另 种靶,就需要换用另一只相应靶材的管子。这种管子使用方便,但若灯丝烧断后它的寿命也 就完全终结了。密封式X射线管的寿命一般为1000一2000小时,它的报废往往并不是与因 灯丝损坏,而是由于靶面被熔毁或因受到钨蒸气及管内受热部分金屈的污染,致使发射的X 射线谱线“不纯”而被废用。 (3)转靶式管一这种管采用一种特殊的运动结构以大大增强靶面的冷却,即所谓旋 转阳极X射线管,是目前最实用的高强度X射线发生装置。管子的阳极设计成圆柱体形,柱 面作为靶面,阳极需要用水冷却。工作时阳极圆柱以高速旋转,这样靶面受电子束轰击的部 位不再是一个点或一条线段而是被延展成阳极柱体上的一段柱面,使受热面积展开,从而有 效地加强了热量的散发。所以,这种管的功率能远远超过前两种管子。对于铜或钼靶管,密 封式管的额定功率,目前只能达到2K左右,而转靶式管最高可达90Km。 2.测角仪
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 有极小一部分转变为 X 射线能,靶面发射的 X 射线能量与电子束总能量的比率 ε 可用下面 的近似公式表示: ε= 1.1×10-9 Z V (1.1) 式中 Z 为靶材组成元素的原子序数,V 为 X 射线管的极间电压(又称管电压),以伏特 为单位。例如对于一只铜靶的 X 射线管,在 30KV 工作时,ε= 0.1%,而一只钨靶的 X 射线 管在 100KV 条件下工作时,也不过 ε= 0.8%。可见 X 射线管产生 X 射线的能量效率是十分 低的,但是,目前 X 射线管仍是最实用的发生 X 射线的器件。 因为轰击靶面电子束的绝大部分能量都转化为热能,所以,在工作时 X 射线管的靶必须 采取水冷(或其他手段)进行强制冷却,以免对阴极被加热至熔化,受到损坏。也是由于这 个原故,X 射线管的最大功率受到一定限制,决定于阳极材料的熔点、导热系数和靶面冷却 手段的效果等因素。同一种冷却结构的 X 射线管的额定功率,因靶材的不同是大不相同的。 例如,铜靶(铜有极佳的导热性)和钼靶(钼的熔点很高)的功率常为相同结构的铁、钴、 铬靶的两倍。 在晶体衍射实验中,常用的 X 射线管按其结构设计的特点可分为三种类型: (1)可拆式管——这种 X 射线管在动真空下工作,配有真空系统,使用时需抽真空使 管内真空度达到 10-5 毫帕或更佳的真空度。不同元素的靶可以随时更换,灯丝损坏后也可 以更换,这种管的寿命可以说是无限的。 (2) 密封式管——这是最常使用的 X 射线管,它的靶和灯丝密封在高真空的壳体内。 壳体上有对 X 射线“透明”的 X 射线出射“窗孔”。靶和灯丝不能更换,如果需要使用另一 种靶,就需要换用另一只相应靶材的管子。这种管子使用方便,但若灯丝烧断后它的寿命也 就完全终结了。密封式 X 射线管的寿命一般为 1000—2000 小时,它的报废往往并不是与因 灯丝损坏,而是由于靶面被熔毁或因受到钨蒸气及管内受热部分金属的污染,致使发射的 X 射线谱线“不纯”而被废用。 (3)转靶式管——这种管采用一种特殊的运动结构以大大增强靶面的冷却,即所谓旋 转阳极 X 射线管,是目前最实用的高强度 X 射线发生装置。管子的阳极设计成圆柱体形,柱 面作为靶面,阳极需要用水冷却。工作时阳极圆柱以高速旋转,这样靶面受电子束轰击的部 位不再是一个点或一条线段而是被延展成阳极柱体上的一段柱面,使受热面积展开,从而有 效地加强了热量的散发。所以,这种管的功率能远远超过前两种管子。对于铜或钼靶管,密 封式管的额定功率,目前只能达到 2 KW 左右,而转靶式管最高可达 90 KW。 2. 测角仪 2
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 测角仪是粉末X射线衍射仪的核心部件,主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散 射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成。 (1)衍射仪一般利用线焦点作为X射线源S。如果采用焦斑尺寸为1×10平方毫米的常规 X射线管,出射角6°时,实际有效焦宽为0.1毫米,成为0.1×10平方毫米的线状X射线 源。 (2)从S发射的X射线,其水平方向的发散角被第一个狭缝限制之后,照射试样。这个狭 缝称为发散狭缝0S),生产厂供给1/6°、1/2°、1°、2°、4°的发散狭缝和测角仪调整 用0.05毫米宽的狭缝。 (3)从试样上衍射的X射线束,在下处聚焦,放在这个位置的第二个狭缝,称为接收狭缝 (®S).生产厂供给0.15毫米、0.3毫米、0.6毫米宽的接收狭缝。 (4)第三个狭缝是防止空气散射等非试样散射X射线进入计数管,称为防散射狭缝(SS)。 SS和DS配对,生产厂供给与发散获缝的发射角相同的防散射获缝。 (5)S1、S2称为索拉狭缝,是由一组等间距相互平行的薄金属片组成,它限制入射X射 线和衍射线的垂直方向发散。索拉获缝装在叫做索拉狭缝盒的框架里。这个框架兼作其他狭 缝插座用,即插入DS,RS和SS. 3.X射线探测记录装置 衍射仪中常用的探测器是闪烁计数器(SC),它是利用X射线能在某些固体物质(磷光体) 中产生的波长在可见光范围内的荧光,这种荧光再转换为能够测量的电流。由于输出的电流 和计数器吸收的X光子能量成正比,因此可以用来测量衍射线的强度。 闪烁计数管的发光体一般是用微量铊活化的碘化钠(阳I)单晶体。这种晶体经X射线激 发后发出蓝紫色的光。将这种微弱的光用光电倍增管来放大,发光体的蓝紫色光激发光电倍 增管的光电面(光阴极)而发出光电子(一次电子),光电倍增管电极由10个左右的联极构成, 由于一次电子在联极表面上激发二次电子,经联极放大后电子数目按几何级数刷增(约106 倍),最后输出几个毫伏的脉冲。 4计算机控制、处理装置 XD-2衍射仪主要操作都由计算机控制自动完成,扫描操作完成后,衍射原始数据自动 存入计算机硬盘中供数据分析处理。数据分析处理包括平滑点的选择、背底扣除、自动寻峰、 d值计算,衍射峰强度计算等。 【实验原理】
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 测角仪是粉末 X 射线衍射仪的核心部件,主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散 射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成。 (1)衍射仪一般利用线焦点作为 X 射线源 S。如果采用焦斑尺寸为 1×10 平方毫米的常规 X 射线管,出射角 6°时,实际有效焦宽为 0.1 毫米,成为 0.1×10 平方毫米的线状 X 射线 源。 (2)从 S 发射的 X 射线,其水平方向的发散角被第一个狭缝限制之后,照射试样。这个狭 缝称为发散狭缝(DS),生产厂供给 1/6°、1/2°、1°、2°、4°的发散狭缝和测角仪调整 用 0.05 毫米宽的狭缝。 (3)从试样上衍射的 X 射线束,在 F 处聚焦,放在这个位置的第二个狭缝,称为接收狭缝 (RS).生产厂供给 0.15 毫米、0.3 毫米、0.6 毫米宽的接收狭缝。 (4)第三个狭缝是防止空气散射等非试样散射 X 射线进入计数管,称为防散射狭缝(SS)。 SS 和 DS 配对,生产厂供给与发散狭缝的发射角相同的防散射狭缝。 (5)S1、S2 称为索拉狭缝,是由一组等间距相互平行的薄金属片组成,它限制入射 X 射 线和衍射线的垂直方向发散。索拉狭缝装在叫做索拉狭缝盒的框架里。这个框架兼作其他狭 缝插座用,即插入 DS,RS 和 SS. 3.X 射线探测记录装置 衍射仪中常用的探测器是闪烁计数器(SC),它是利用 X 射线能在某些固体物质(磷光体) 中产生的波长在可见光范围内的荧光,这种荧光再转换为能够测量的电流。由于输出的电流 和计数器吸收的 X 光子能量成正比,因此可以用来测量衍射线的强度。 闪烁计数管的发光体一般是用微量铊活化的碘化钠(NaI)单晶体。这种晶体经 X 射线激 发后发出蓝紫色的光。将这种微弱的光用光电倍增管来放大,发光体的蓝紫色光激发光电倍 增管的光电面(光阴极)而发出光电子(一次电子),光电倍增管电极由 10 个左右的联极构成, 由于一次电子在联极表面上激发二次电子,经联极放大后电子数目按几何级数剧增(约 106 倍),最后输出几个毫伏的脉冲。 4.计算机控制、处理装置 XD-2 衍射仪主要操作都由计算机控制自动完成,扫描操作完成后,衍射原始数据自动 存入计算机硬盘中供数据分析处理。数据分析处理包括平滑点的选择、背底扣除、自动寻峰、 d 值计算,衍射峰强度计算等。 【实验原理】 3
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 1.X射线物相分析 一束波长λ的平行x-ry照射到晶面间距为d的一组晶面上,当入射角0满足布拉格 (Bragg)方程时,即可发生衍射。晶体对X-射线的衍射Bragg方程: 2 d sine=n n取正整数 根据晶体对X射线的衍射特征一衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法, 就是X射线物相分析法。每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。没有任何两 种物质,它们的品胞大小、质点种类及其在品胞中的排列方式是完全一致的。因此,当X射 线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个衍射晶 面间距d和衍射线的相对强度I/1,来表征。其中品面间距与品胞的形状和大小有关,相对 强度则与质点的种类及其在品胞中的位置有关。所以任何一种结晶物质的衍射数据和I/I。 是其品体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结品物质的物相。 2.物相定性分析方法 A.三强线法: (1)从前反射区(20<90)中选取强度最大的三根线,见图二所示,使其d值按强度递减 的次序排列。 美PAA西HaUA☑ 1 图二行射谱中的三强线 (2)在数字索引中找到对应的1(最强线的面间距)组 (3)按次强线的面间距2找到接近的几列. (4)检查这几列数据中的第三个值是否与待测样的数据对应,再查看第四至第八强线数 据并进行对照,最后从中找出最可能的物相及其卡片号。如表一所示
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 1. X 射线物相分析 一束波长λ的平行 x-ray 照射到晶面间距为 d 的一组晶面上,当入射角θ满足布拉格 (Bragg)方程时,即可发生衍射。晶体对 X-射线的衍射 Bragg 方程: 2 d sinθ = n λ n 取正整数 根据晶体对X射线的衍射特征-衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法, 就是X射线物相分析法。每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。没有任何两 种物质,它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。因此,当X射 线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个衍射晶 面间距d和衍射线的相对强度I/I0来表征。其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关,相对 强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I/I0 是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。 2. 物相定性分析方法 A.三强线法: (1)从前反射区(2θ<90)中选取强度最大的三根线,见图二所示,使其 d 值按强度递减 的次序排列。 图二 衍射谱中的三强线 (2)在数字索引中找到对应的 d1(最强线的面间距)组。 (3)按次强线的面间距 d2 找到接近的几列。 (4)检查这几列数据中的第三个 d 值是否与待测样的数据对应,再查看第四至第八强线数 据并进行对照,最后从中找出最可能的物相及其卡片号。如表一所示。 4
石河子大学师范学院物理系】 近代物理实验讲义 表一标准PDF卡片样片 33-1161 1162 ★ 1-7)100 22 14 22 Oxide 益器时器a g品, Ref.Ibid yt Coir :6 4444 0010001 112111 371 ,255 (5)找出可能的标准卡片,将实验所得及I/I1跟卡片上的数据详细对照,如果完全符 合,物相鉴定即告完成。 如果待测样的数据与标准数据不符,则须重新排列组合并重复(2)~(5)的检索手续。 如为多相物质,当找出第一物相之后,可将其线条剔出,并将留下线条的强度重新归一化, 再按过程(1)~(5)进行检索,直到得出正确答案。 B.特征峰法: 对于经常使用的样品,其衍射谱图应该充分了解掌握,可根据其谱图特征进行初步判断, 如图三所示。例如在26.5度左右有一强峰,在68度左右有五指峰出现,则可初步判定样品 含Si0a。 图三Si02样品的X射线衍射谱
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 表一 标准 PDF 卡片样片 (5)找出可能的标准卡片,将实验所得 d 及 I/I1 跟卡片上的数据详细对照,如果完全符 合,物相鉴定即告完成。 如果待测样的数据与标准数据不符,则须重新排列组合并重复(2)~(5)的检索手续。 如为多相物质,当找出第一物相之后,可将其线条剔出,并将留下线条的强度重新归一化, 再按过程(1)~(5)进行检索,直到得出正确答案。 B.特征峰法 对于经常使用的样品,其衍射谱图应该充分了解掌握,可根据其谱图特征进行初步判断, 含SiO 。 图三 SiO2 样品的 X 射线衍射谱 : 如图三所示。例如在 26.5 度左右有一强峰,在 68 度左右有五指峰出现,则可初步判定样品 2 5
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 【实验内容及步骤】 1.实验参数选择 (1)阳极靶的选择: 选择阳极靶的基本要求:尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射,以降 低衍射花样的背底,使图样清晰。不同靶材的使用范围见表二。 表二不同靶材的使用范围 的材料,经常使用的条件 Cu 除了黑色金属试样以外的一般无机物,有机物。 Co. 黑色金属试样〔强度高,但背底也高,最好计数器和单 色器连用) Fe. 黑色金属试样〔缺点是靶的允许负荷小)。 G 黑色金属试样强度低,但P/B大), 测定钢铁试样或利用透射法测定吸收系数大试样, 单晶的劳厄照相(也可以用M积、C▣靶,靶材原子序 数越大,强度越高)。 必须根据试样所含元素的种类来选择最适宜的特征X射线波长(靶)。当X射线的波长稍 短于试样成分元素的吸收限时,试样强烈地吸收X射线,并激发产生成分元素的荧光X射线, 背底增高。其结果是蜂背比(信噪比)P/B低(P为峰强度,B为背底强度),衍射图谱难以分 清。X射线衍射所能测定的值范围,取决于所使用的特征X射线的波长。X射线衍射所需 测定的d值范围大都在1m至0.lm之间。为了使这一范围内的衍射峰易于分离而被检测, 需要选择合适波长的特征X射线。详见表三。 表三不同粑材的特征X射线波长 原工 被长×10'6) 【竖收限发 元子 入X12”电压 m】,.0m 475.5941.5.63805.8084 4.9709.4.858,25.52 0,42,7.0330,7.1359,7.1073, 6.3229,6.198,20.00 Ca,29.15.4051,15.4433.15.4178,13.921713.804,8.6 1i,28.16.5791,16.6175.15.6919,15.0014,14.631.8.29. C0,27.17.8397,17.9285,17.9028 16.207916.032,7.71 e26.19.380419.399819.3735,17.5661 17.435 7.10 0,24.22.8971.22.9381.22.9100,20.8487,20.702,5.98. 6
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 【实验内容及步骤】 1. 实验参数选择 (1)阳极靶的选择: 选择阳极靶的基本要求:尽可能避免靶材产生的特征 X 射线激发样品的荧光辐射,以降 低衍射花样的背底,使图样清晰。不同靶材的使用范围见表二。 当 X 线的波长稍 短于试样成分元素的吸收限时,试样强烈地吸收 X 射线,并激发产生成分元素的荧光 X 射线, 背底增高。其结果是峰背比(信噪比)P/B 低(P 为峰强度,B 为背底强度),衍射图谱难以分 清。X 射线衍射所能测定的 d 值范围,取决于所使用的特征 X 射线的波长。X 射线衍射所需 测定的 d 值范围大都在 1nm 至 0.1nm 之间。为了使这一范围内的衍射峰易于分离而被检测, 需要选择合适波长的特征 X 射线。详见表三。 表二 不同靶材的使用范围 必须根据试样所含元素的种类来选择最适宜的特征 X 射线波长(靶)。 射 表三 不同靶材的特征 X 射线波长 6
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 般测试使用铜靶,但因X射线的波长与试样的吸收有关,可根据试样物质的种类分 别选用Co、F,或Cr靶。此外还可选用钼靶,这是由于钼靶的特征X射线波长较短,穿透 能力强,如果希望在低角处得到高指数晶品面衍射峰,或为了减少吸收的影响等,均可选用钼 靶。 (2)管电压和管电流的选择 工作电压设定为3~5倍的靶材临界激发电压。选择管电流时功率不能超过X射线管额 定功率,较低的管电流可以延长X射线管的寿命。 X射线管经常使用的负荷(管压和管流的乘积)选为最大允许负荷的80%左右。但是,当 管压超过激发电压5倍以上时,强度的增加率将下降。所以,在相同负荷下产生X射线时, 在管压约为激发电压5倍以内时要优先考虑管压,在更高的管压下其负荷可用管流来调节。 靶元素的原子序数越大,激发电压就越高。由于连续X射线的强度与管压的平方呈正比,特 征X射线与连续X射线的强度之比,随者管压的增加接近一个常数,当管压超过激发电压的 4一5倍时反而变小,所以,管压过高,信噪比P/B将降低,这是不可取得的。具体数据见 表四:衍射仪测试条件参数选择。 (3)发散狭缝的选择(DS): 发散狭缝(S)决定了X射线水平方向的发散角,限制试样被X射线照射的面积。如果 使用较宽的发射狭缝,X射线强度增加,但在低角处入射X射线超出试样范围,照射到边上 的试样架,出现试样架物质的衍射峰或漫散峰,对定量相分析带来不利的影响。因此有必要 按测定目的选择合适的发散狭缝宽度。 生产厂家提供1/6°、1/2°、1”、2°、4°的发散狭缝,通常定性物相分析选用1“ 发散狭缝,当低角度衍射特别重要时,可以选用1/2°(或1/6°)发散狭缝。 (④防散射狭缝的选择(SS) 防散射狭缝用来防止空气等物资引起的散射X射线进入探测器,选用SS与S角度相同。 (⑤)接收狭缝的选择(S): 生产厂家提供0.15mm、0.3m、0.6的接收狭缝,接收狭缝的大小影响衍射线的分辨 率。接收狭缝越小,分辨率越高,衍射强度越低。通常物相定性分析时使用0.3的接收狭 缝,桔确测定可使用0.15m的接收狭缝。 (6)滤波片的选择: 2滤40,Z滤=2靶-2 ()扫描范围的确定
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 一般测试使用铜靶,但因 X 射线的波长与试样的吸收有关,可根据试样物质的 别选用 Co、Fe,或 Cr 靶。此外还可选用钼靶,这是由于钼靶的特征 X 射线波长 能力强,如果希望在低角处得到高指数晶面衍射峰,或为了减少吸收的影响等, 靶。 (2)管电压和管电流的选择 工作电压设定为 3~5 倍的靶材临界激发电压。选择管电流时功率不能超过 射线管额 定功率,较低的管电流可以延长 X 射线管的寿命。 X 射线管经常使用的负荷(管压和管流的乘积)选为最大允许负荷的 80%左右。但是,当 管压超过激发电压 5 倍以上时,强度的增加率将下降。所以,在相同负荷下产生 X 射线时, 管压约为激发电压 5 倍以内时要优先考虑管压,在更高的管压下其负荷可用管流来调节。 元素的原子序数越大,激发电压就越高。由于连续 X 射线的强度与管压的平方呈正比,特 征 X 狭缝的选择(DS): 射线水平方向的发散角,限制试样被 X 射线照射的面积。如果 使用 量相分析带来不利的影响。因此有必要 0.6mm 的接收狭缝,接收狭缝的大小影响衍射线的分辨 ,衍射强度越低。通常物相定性分析时使用 0.3mm 的接收狭 缝, 种类分 较短,穿透 均可选用钼 X 在 靶 射线与连续 X 射线的强度之比,随着管压的增加接近一个常数,当管压超过激发电压的 4~5 倍时反而变小,所以,管压过高,信噪比 P/B 将降低,这是不可取得的。具体数据见 表四:衍射仪测试条件参数选择。 (3)发散 发散狭缝(DS)决定了 X 较宽的发射狭缝,X 射线强度增加,但在低角处入射 X 射线超出试样范围,照射到边上 的试样架,出现试样架物质的衍射峰或漫散峰,对定 按测定目的选择合适的发散狭缝宽度。 生产厂家提供 1/6°、1/2°、1°、2°、4°的发散狭缝,通常定性物相分析选用 1° 发散狭缝,当低角度衍射特别重要时,可以选用 1/2°(或 1/6°)发散狭缝。 (4)防散射狭缝的选择(SS): 防散射狭缝用来防止空气等物资引起的散射 X 射线进入探测器,选用 SS 与 DS 角度相同。 (5)接收狭缝的选择(RS): 生产厂家提供 0.15mm、0.3mm、 率。接收狭缝越小,分辨率越高 精确测定可使用 0.15mm 的接收狭缝。 (6)滤波片的选择: Z 滤40,Z 滤=Z 靶-2 (7)扫描范围的确定 7
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 不同的测定目的,其扫描范用也不同。当选用C靶进行无机化合物的相分析时,扫描 范围一般为90°~2°(20):对于高分子,有机化合物的相分析,其扫描范围一般为60~ 2”:在定量分析、点阵参数测定时,一般只对欲测衍射峰扫描几度。 (8)扫描速度的确定 常规物相定性分析常采用每分钟2”或4“的扫描速度,在进行点阵参数测定,微量分 析或物相定量分析时,常采用每分钟1/2°或1/4°的扫描速度。 表四衍射仪测试条件参数选择 的 未试样的铁化合 有机商卧子微量相 条件, 简相盼渐的湘盼新。测定,份折。 定量 测定, 配 V,Hn,Fe Ni. 5,t 管压(W)3545.040,3545,545.3545. 35w45, 管克0.3040.2040.3040,3040.3040, n. 速度C/in2,4,2,4.1,2,1/2,1,1/4,1/2., 1/8w1/2, 发藏敬罐sr), 12,1, 12,1,2、 h.3.0.15,0.3h.3,0.6h.15,0.3,0.60.15,0.3 扫瑞范围C).3070)2,120w10.802 0T0)2,需要的行时线, 房安的行肘线 50w10) 尽可能高角 的几条行射螺 2.样品制备 X射线衍射分析的样品主要有粉末样品、块状样品、薄膜样品、纤维样品等。样品不同, 分析目的不同(定性分析或定量分析),则样品制备方法也不同。 (1)粉末样品: X射线衍射分析的粉末试样必需满足这样两个条件:晶粒要细小,试样无择优取向(取向 排列混乱)。所以,通常将试样研细后使用,可用玛璃研体研细。定性分析时粒度应小于44 微米(350目),定量分析时应将试样研细至10微米左右。较方便地确定10微米粒度的方法 是,用拇指和中指捏住少量粉末,并碾动,两手指间没有颗粒感觉的粒度大致为10微米。 将试样粉末-点一点地放进制样框的窗口中,再用小抹刀的刀口轻轻剁紧,使粉末在窗孔内 摊匀堆好,然后用小抹刀把粉末轻轻压紧,最后用保险刀片(或载玻片的断口)把多余凸出 的粉末削去,使粉末试样在试样架里均匀分布并用玻璃板压平实,要求试样面与玻璃表面齐 8
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 不同的测定目的,其扫描范围也不同。当选用 Cu 靶进行无机化合物的相分析时,扫描 范围一般为 90°~2°(2θ);对于高分子,有机化合物的相分析,其扫描范围一般为 60~ 时,一般只对欲测衍射峰扫描几度。 分钟 2°或 4°的扫描速度,在进行点阵参数测定,微量分 2. 样品制备 样品不同, 试样无择优取向(取向 定性分析时粒度应小于 44 微米粒度的方法 1 微米。 将试样粉末-点一点地放进制样框的窗口中,再用小抹刀的刀口轻轻剁紧,使粉末在窗孔内 摊匀堆好,然后用小抹刀把粉末轻轻压紧,最后用保险刀片(或载玻片的断口)把多余凸出 的粉末削去,使粉末试样在试样架里均匀分布并用玻璃板压平实,要求试样面与玻璃表面齐 2°;在定量分析、点阵参数测定 (8)扫描速度的确定 常规物相定性分析常采用每 析或物相定量分析时,常采用每分钟 1/2°或 1/4°的扫描速度。 表四 衍射仪测试条件参数选择 X射线衍射分析的样品主要有粉末样品、块状样品、薄膜样品、纤维样品等。 分析目的不同(定性分析或定量分析),则样品制备方法也不同。 (1)粉末样品: X射线衍射分析的粉末试样必需满足这样两个条件:晶粒要细小, 排列混乱)。所以,通常将试样研细后使用,可用玛瑙研钵研细。 微米(350 目),定量分析时应将试样研细至 10 微米左右。较方便地确定 10 是,用拇指和中指捏住少量粉末,并碾动,两手指间没有颗粒感觉的粒度大致为 0 8
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 平。然后,小心地把制样框从玻璃平面上拿起,便能得到一个很平的样品粉末的平面。此法 所需样品粉末量较多,约需0.4cm。 (2)块状样品: 先将块状样品表面研磨抛光,大小不超过20×18平方毫米,然后用橡皮泥将样品粘在铝 样品支架上,要求样品表面与铝样品支架表面平齐。 3.样品测试 (①)开机前的准备和检查 将制备好的试样插入衍射仪样品台,盖上顶盖关闭防护罩:X光管窗口应关闭,管电 流管电压表指示应在最小位置:接通总电源。 (②)开机操作 开启衍射仪总电源,启动循环水泵:待数分钟后,打开计算机X射线衍射仪应用软件, 设置管电压、管电流至需要值,设置合适的衍射条件及参数,开始样品测试。 (3)停机操作 测量完毕,关闭X射线衍射仪应用软件:取出试样:15分钟后关闭循环水泵,关闭水源: 关闭衍射仪总电源及线路总电源。 4.数据处理 测试完毕后,可将样品测试数据存入磁盘供随时调出处理。原始数据需经过曲线平滑, Ka2扣除,谱峰寻找等数据处理步骤,最后打印出待分析试样衍射曲 线和值、20、强度、衍射峰宽等数据供分析鉴定。 【实验课要求】 1.实验课前必须预习实验讲义和教材,掌握实验原理等必需知识。 2.根据教师给定实验样品,设计实验方案,选择样品制备方法、仪器条件参数等 3.要求用设计性实验报告用纸写出:实验原理,实验方案步骤(包括样品制备、实验参数 选择、测试、数据处理等),选择定性分析方法,物相鉴定结果分析等。 4.鉴定结果要求写出样品名称(中英文)、卡片号,实验数据和标准数据三强线的值 相对强度及(KL),并进行简单误差分析。 【思考题】 1.简述X射线衍射分析的特点和应用: 2.简述X射线衍射仪的结构和工作原理
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 平。然后,小心 所需样品粉末量较多,约需 0.4cm 地把制样框从玻璃平面上拿起,便能得到一个很平的样品粉末的平面。此法 表面研磨抛光,大小不超过 20×18 平方毫米,然后用橡皮泥将样品粘在铝 闭 X 射线衍射仪应用软件;取出试样;15 分钟后关闭循环水泵,关闭水源; 后,可将样品测试数据存入磁盘供随时调出处理。原始数据需经过曲线平滑, 处理步骤,最后打印出待分析试样衍射曲 【实验课要求】 1.实验课前必须预习实验讲义和教材,掌握实验原理等必需知识。 3.要求用设计性实验报告用纸写出:实验原理,实验方案步骤(包括样品制备、实验参数 性分析方法,物相鉴定结果分析等。 4.鉴定结果要求写出样品名称(中英文)、卡片号,实验数据和标准数据三强线的 d 值、 相对强度及(HKL),并进行简单误差分析。 1.简述 X 射线衍射分析的特点和应用; 3 。 (2)块状样品: 先将块状样品 样品支架上,要求样品表面与铝样品支架表面平齐。 3.样品测试 (1)开机前的准备和检查 将制备好的试样插入衍射仪样品台,盖上顶盖关闭防护罩; X 光管窗口应关闭,管电 流管电压表指示应在最小位置;接通总电源。 (2)开机操作 开启衍射仪总电源,启动循环水泵;待数分钟后,打开计算机 X 射线衍射仪应用软件, 设置管电压、管电流至需要值,设置合适的衍射条件及参数,开始样品测试。 (3)停机操作 测量完毕,关 关闭衍射仪总电源及线路总电源。 4. 数据处理 测试完毕 Ka2 扣除,谱峰寻找等数据 线和 d 值、2θ、强度、衍射峰宽等数据供分析鉴定。 2.根据教师给定实验样品,设计实验方案,选择样品制备方法、仪器条件参数等。 选择、测试、数据处理等),选择定 【思考题】 2.简述 X 射线衍射仪的结构和工作原理; 9
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 3.粉末样品制备有几种方法,应注意什么问题 4.如何选择X射线管及管电压和管电流? 5.X射线谱图分析鉴定应注意什么问题? 【参考资料】 1.《X射线晶体学基础》梁栋材科学出版社(第二版)2006 2.《材料近代分析测试方法》常铁军哈尔滨工业大学出版社,1999 3.《仪器分析》朱明华高等教育出版社2000 4.互联网查询相关资料
石河子大学师范学院物理系 近代物理实验讲义 3.粉末样品制备有几种方法,应注意什么问题? 4.如何选择 X 射线管及管电压和管电流? 5.X 射线谱图分析鉴定应注意什么问题? 【 1.《X 射线晶体学基础》梁栋材 科学出版社(第二版)2006 3.《仪器分析》朱明华 高等教育出版社 2000 参考资料】 2.《材料近代分析测试方法》常铁军 哈尔滨工业大学出版社,1999 4.互联网查询相关资料 10