扫描隧道显微镜(STM实验 实验目的 STM左体 1,学习和了解扫描避道显微镜的结构和原现； 2现测和验证量子力学中的隧道效应； 电 3.掌摄扫描隧道显微镜的操作和调赋过程， 探针 國 丝函 年端 养以之来观察样品的寒面形就； 4学可用计算机软件来处理原始数据图像。 U 样品 (放大) 二实验原理及仪骚工作原理 扫描隧道显撒镜工作原理示意图 反馈回路 量子力学中的隧道效应 恒电流模式（世，）→zc,y) 恒高度模式血1g,)→师z,y》
一 实验目的 1.学习和了解扫描隧道显微镜的结构和原理； 2.观测和验证量子力学中的隧道效应； 3.掌握扫描隧道显微镜的操作和调试过程， 并以之来观察样品的表面形貌； 4.学习用计算机软件来处理原始数据图像。 二 实验原理及仪器工作原理 扫描隧道显微镜工作原理示意图
固本紫外及可见光谮分折 实验目的： 1、了解繁外及可见光塘分析的原湿； 2、掌援彩用繁外可见分光宪废计对待测样品逆行光学性能分桥的过程和方法。 二、实验原理： UV-VIS双光束分光光度计的光学系统框图 M, M, D2 M 参比光 M M, :2 M M Ms 8度 光 试样室内积分球 构示意图 M,1 试样室 3 M1M,M3,M,M6,M,Mg,M,：球宜反射镜M5,M1o:平面反射镜 MM2,M3:反射镜 S1:入射获线 S,:幽射获舞 W:澳鹤订 D2:氘灯 L]:光电倍增管接口 T:新光阔利腊 G:光栅 PM:光电倍细楂 12,3:标准白板
一、实验目的： 1、了解紫外及可见光谱分析的原理； 2、掌握利用紫外-可见分光光度计对待测样品进行光学性能分析的过程和方法。 二、实验原理： UV-VIS双光束分光光度计的光学系统框图 M1 ,M2 ,M3 ,M4 ,M6 ,M7 ,M8 ,M9 ：球面反射镜 M5 ,M10：平面反射镜 S1：入射狭缝 S2：出射狭缝 W1：溴钨灯 D2：氘灯 T：斩光调制器 G：光栅 PM ：光电倍增管 M'1 ,M'2 ,M'3：反射镜 L1：光电倍增管接口 1,2,3：标准白板 试 样 室 内 积 分 球 结 构 示 意 图 1 3 2 M'2 M'3 8度 参比光 样品光 L1 M'1 M2 S1 G M1 M3 M4 S2 D2 M5 M7 M6 M9 M8 T M10 试样室 一、实验目的： 1、 了解紫外及可见光谱分析的原理； 2、掌握利用紫外-可见分光光度计对待测样品 进行光学性能分析的过程和方法 。 二、实验原理： U V-VIS双光束分光光度计的光学系统框图 M1 , M2 ,M3 , M4 , M6 , M7 ,M8 , M9 ：球面反射镜 M5 , M10：平面反射镜 S1 ：入射狭缝 S2 ：出射狭缝 W1 ：溴钨灯 D2 ：氘灯 T：斩光调制器 G：光栅 PM ：光电倍增管 M '1 ,M'2 ,M'3 ：反射镜 L1 ：光电倍增管接口 1,2,3：标准白板 试 样 室 内 积 分 球 结 构 示 意 图 1 3 2 M'2 M'3 8度 参比光 样品光 L1 M'1 M2 S1 G M1 M3 M4 S2 D2 M5 M7 M6 M9 M8 T M1 0 试样室
X射线物相定性分析 一、实验目的： 1、了解X射线多晶所射物相分析的的原； 2事握利用Y40多嘉粉来所射仪对来知样品进行物相定性分新的过程和方法。 二、实验原理： 2dsin0-入 点阵空间 布拉格方程 入射嫩衙射的 0 H S, -K。=G S:样品 F:X射线营 H,S1:入射光阑系统 M,S2,G:接收光阑系统 D:光电计数船 埃瓦尔德梅图法 多晶X射线衍射仪结构示意图
一、实验目的： 1、了解X射线多晶衍射物相分析的的原理； 2、掌握利用Y4Q多晶粉末衍射仪对未知样品进行物相定性分析的过程和方法。 二、实验原理： 多晶X射线衍射仪结构示意图 O N H S1 F 2q S q G D M S2 S：样品 F：X射线管 H, S1：入射光阑系统 M, S2, G：接收光阑系统 D：光电计数器 q q dsinq dsinq d 2dsinq=l X 射 线 衍 射 的 布 拉 格 方 程 X 射 线 衍 射 的 埃 瓦 尔 德 构 图 法 K0 2 l K 2 l C G K – K0 = G K’ G’ 倒易空间 点阵空间
单光子计数实验 实验目的 1、测量暗计数率R:和光计数率R,鹿究电倍增管工作温度的哭系， 研究工作混度R:和R的影响； 2、研究汁敷率R和入射光功率P的对应哭系。 实验原理及光路图 S2=480 光 放 电倍增 0光栏 甄别器 计数器 Sa 光电倍增管 湾光片 管 半透半反镜 光源 参考电压 开关信号 Si-S3+S 功率指苏表 原理棍图 先路图
实验目的 １、测量暗计数率Rd和光计数率Rp随光电倍增管工作温度的关系， 研究工作温度Rd和Rp的影响； ２、研究计数率Rd和入射光功率P的对应关系 。 实验原理及光路图 光 电 倍 增 管 放 大 器 甄 别 器 计 数 器 光 子 参考电压 开关信号 原理框图 光路图
电子好射实验 实验目的 1用真空镀隙工艺制客服膜； 2用电子束骁射金属服的薄膜，观察研究发生的电子许射现象； 3、拍摄电子所射图样，升算电子玻波长，验亚布罗意公式。 实验原理及仪器工作原理图 电 入射电子束 灯丝 衍射来 灯丝罩 屏 反射品面 极 接人地 按负高压 至高真空机组 高真空室 h h == √2meU P=(2D+2+1P a 电子衍射仪的电子光学系统示意图
实验目的 1、用真空镀膜工艺制备银膜 ； 2、用电子束照射金属银的薄膜，观察研究发生的电子衍射现象； 3、拍摄电子衍射图样，计算电子波波长，验证德布罗意公式。 实验原理及仪器工作原理图 2 2 2 2 2 ( ) ( ) D r h k l a l = + + 2 h h p meU l = = 电子衍射仪的电子光学系统示意图
盖革一弥勒计数器和放射性棵测 一、实验目的： 1、貜解盖革一弥勒计敗弱的工作原理和掌邏测量方法 2、了解核福射计数的统叶规障及计数率的测定的标准偏篾计算方法 二、实验原理： 计數管 个计数率 定标弱 R 高压电源 示波酪 U 工作原理框图 G-M计数管坪特性曲线
一、实验目的： １、理解盖革—弥勒计数器的工作原理和掌握测量方法 ２、了解核辐射计数的统计规律及计数率的测定的标准偏差计算方法 二、实验原理： 工作原理框图 G-M计数管坪特性曲线 高压电源 计数管 定标器 示波器 C R 计数率 U0 U1 U2 U
光电效应及善朗克常数测定 实验目的 1、通过光电效应实验了解光的量子性； 2、测量先电管的弱电流特性，找出不周光频率下的逼止上电压； 3验延爱因断短方程，由此求出普明克常数 实验原理及仪器结构图 光强度增加 测试仪 0 2 3 仪器结构图 光电管的伏安特性曲线 。一v关系曲线 1-汞灯2-刻度尺3-光阑与滤色片4-光电管
实验目的 1、通过光电效应实验了解光的量子性； 2、测量光电管的弱电流特性,找出不同光频率下的遏止电压； 3、验证爱因斯坦方程,由此求出普朗克常数. 实验原理及仪器结构图
光学多道分析暴的使用 实验目的 1人了解OMA的组成及工作原理； 2、学习使用OMA分析光谱的方法； 3、了解计算机在数据采集、分析处理中的应用； 4、分析可见光区的各种光源光谱。 WGD-6型光学多道分析器 实验原理及仪器工作原理图 采样保持 单色仪 及A/D PC/XT 计算机 打印机 CCD驱动器 32 CCD光学多道分析器系统框图 WGD一6型光学多道分析器的光学部分
实验目的 1、了解OMA的组成及工作原理； 2、学习使用OMA分析光谱的方法； 3、了解计算机在数据采集、分析处理中的应用； 4、分析可见光区的各种光源光谱。 实验原理及仪器工作原理图 WGD－6型光学多道分析器 CCD光学多道分析器系统框图 WGD－6型光学多道分析器的光学部分
核衰变的绕计分布规律 一、实验目的： 1、验正核衰变的统计规障。 2、掌缓放射性测量缩果的狠麓寝示方法。 3、了解测量时间和本康计敷对测壹准确度的影响。 二、实验原理： PW↑ P(N)= .e 救射源 樑测器 定标翳 (何-367型闪烁头) (H463B自动定标器) 高压电源 M Np Y 泊松分布曲线 实验装置图
一、实验目的： 1、验证核衰变的统计规律。 2、掌握放射性测量结果的误差表示方法。 3、了解测量时间和本底计数对测量准确度的影响。 二、实验原理： 实验装置图 P(N) N ( ) ! N Y Y P N e N − = 泊松分布曲线 NP Y 高压电源 探测器 (FJ-367型闪烁探头) 定标器 (FH-463B自动定标器) 放射源 一、实验目的： 1、验证核衰变的统计规律。 2、掌握放射性测量结果的误差表示方法。 3、了解测量时间和本底计数对测量准确度的影响。 二、实验原理： 实验装置图 P(N) N ( ) ! N Y Y P N e N − = 泊松分布曲线 NP Y 高压电源 探测器 (FJ-367型闪烁探头) 定标器 (FH-463B自动定标器) 放射源
置尔测武系统 一、实验目的： 1、了解置尔测狱系统的工作原； 2、掌摄利用L5500PC震尔效应测就系统对特测簿膜样品进行电学参数综合测就的方法。 二、实验原理： 下：载流子的运动速度 B q:载流子所带电荷 防静电手腕 B:外加磁场的磁愿应蛋度 四角解针 F-q(E+B) E:外加电场的电场强度 (a)荷电粒子在外加电场Ex和 外加磁场作用下的受力情况 03 E。:覆尔电醉所引起的横向电场 1:样品中通过的电流 HL5500PC霍尔效应测试系统示意图 (6)材料中横向电场的建立
一、实验目的： 1、了解霍尔测试系统的工作原理； 2、掌握利用HL5500 PC霍尔效应测试系统对待测薄膜样品进行电学参数综合测试的方法。 二、实验原理： HL5500 PC霍尔效应测试系统示意图 (b)材料中横向电场的建立 y z x E y E x I 1 2 5 1 5 2 4 4 3 3 6 6 防静电手腕 四角探针 qvB F q E v B = + ( ) z E x B y qE v x ：载流子的运动速度 q ： 载流子所带电荷 ：外加磁场的磁感应强度 ：外加电场的电场强度 v B E x ：霍尔电势所引起的横向电场 I ：样品中通过的电流 E y (a)荷电粒子在外加电场Ex和 外加磁场B作用下的受力情况 一、实验目的： 1、了解霍尔测试系统的工作原理； 2、掌握利用HL5500 PC霍尔效应测试系统对待测薄膜样品进行电学参数综合测试的方法。 二、实验原理： HL5500 PC霍尔效应测试系统示意图 (b)材料中横向电场的建立 y z x E y E x I 1 2 5 1 5 2 4 4 3 3 6 6 防静电手腕 四角探针 qvB F q E v B = + ( ) z E x B y qE v x ：载流子的运动速度 q ： 载流子所带电荷 ：外加磁场的磁感应强度 ：外加电场的电场强度 v B Ex ：霍尔电势所引起的横向电场 I ：样品中通过的电流 Ey (a)荷电粒子在外加电场E x和 外加磁场B作用下的受力情况