厦门大学精品课程 仪器分桥（含实验） 《仪器分析》课程 第五章优安与极谱分桥（二）
《仪器分析》课程 第五章 伏安与极谱分析(二) 厦门大学精品课程 仪器分析(含实验)
二、影响扩散电流的主要因素 1. 被测物质的浓度i.kcc个.↑ 但汞滴滴落时间若过短(<2s)，则扩散 电流与浓度不成线性关系（由于下滴速 度过快而搅动溶液，使电流增大)，最 合适的汞滴下落时间为3~6秒
二、影响扩散电流的主要因素 1．被测物质的浓度 id=kc c↑ id ↑ 但汞滴滴落时间若过短（<2s），则扩散 电流与浓度不成线性关系（由于下滴速 度过快而搅动溶液，使电流增大），最 合适的汞滴下落时间为3~6秒
●-t时(t:滴汞落下时间t卡tmax〉 ● imax=708nD1/2m213t1/6c 扩散电流随τ的增大而增大至汞滴落下时 为最大，在实际应用中应该测量在汞滴 落下时间内的平均扩散电流。 平均极限扩散电流i,=1t,tdt=607 nd12m2/3t1/6c(25°C) 尤考维奇方程 id=kc=6/7× max
=t时（t：滴汞落下时间t=max） 则 imax=708nD1/2m2/3 1/6c 扩散电流随的增大而增大至汞滴落下时 为最大，在实际应用中应该测量在汞滴 落下时间内的平均扩散电流。 平均极限扩散电流id=1/t 0 tdt=607 nD1/2m2/3t 1/6c(25℃) 尤考维奇方程 id=kc=6/7× imax
和0 0 0 -0.4-0.8-1.2-1.6-2.0 Ede(Vs.SCE)(伏) 10-3M的T1+、Cd2+、Zn2*、 Co2+和n2+在0.1NKCI溶液（含 0.016动物胶)中的极游图
ca (3ù 测量峰高的方法
测量峰高的方法
超 据 有+2 外加电压 外加电压 测量峰高的方法
测量峰高的方法
2.毛细管特性 (m23t16,毛细管常数) idm2/3t1/6 影响m,t的因素均会引起扩散电流的变化，如汞 柱高度和滴汞电极电位等。 汞柱高度的影响：由于汞流速与汞柱压力p成正 比，m=kp,而滴落时间则与汞柱压力p成反 比t=k2p m23t1/6=(k216k,23)p12i.cm23t16 .ip112oh1/2 实验结果表明，汞柱高度提高1cm,扩散电流 增加2%
2．毛细管特性 （m2/3t 1/6，毛细管常数） id∝m2/3t 1/6 影响m,t的因素均会引起扩散电流的变化，如汞 柱高度和滴汞电极电位等。 汞柱高度的影响：由于汞流速与汞柱压力p成正 比，m = kp，而滴落时间则与汞柱压力 p成反 比 t = k2 /p m2/3t 1/6 =（k2 1/6k1 2/3）/p1/2 id∝m2/3t 1/6 ∴id∝p1/2∝h1/2 实验结果表明，汞柱高度提高1 cm，扩散电流 增加 2%
温度的影响 扩散电流方程式i.=607nD12m23t16c中， 除反应电子转移数n以外，其余各项都是 温度的函数，室温下，扩散电流的温度 系数约为1.3%°℃，实验中要求控温在正 负0.5以内
温度的影响 扩散电流方程式 id=607 nD1/2m2/3t 1/6c中， 除反应电子转移数n以外，其余各项都是 温度的函数，室温下，扩散电流的温度 系数约为1.3%/℃,实验中要求控温在正 负0.5以内
三、极谱分析中的干扰电流 (一)残余电流：电解电流和充电电流 在外加电压未到达被测物质的分解电压，仍 有微小的电流通过电解池，一般为101uA 电解电流，易于在DME上还原的微量杂质 如02，Cu2+,Fe3+等，量值很小，通常可通 过除0，纯化试剂等手段减小
三、极谱分析中的干扰电流 （一）残余电流：电解电流和充电电流 在外加电压未到达被测物质的分解电压，仍 有微小的电流通过电解池，一般为10-1A 1．电解电流，易于在DME上还原的微量杂质 如O2，Cu2+, Fe3+等，量值很小，通常可通 过除O2，纯化试剂等手段减小
2.充电电流，引起残余电流的主要原因。 在KC溶液中，经研究表明滴汞的表面电荷，表 面引力与施加电压有如下关系。 当E-0.56V时， 滴汞表面带负 电荷。 (1)当P、A相触，DME与SCE短路， DME与 SCE具有相同的正电位，滴汞表面带正电荷 (结合表面电荷与电压关系图说明)
2．充电电流，引起残余电流的主要原因。 在KCl溶液中，经研究表明滴汞的表面电荷，表 面引力与施加电压有如下关系。 当E-0.56V时，滴汞表面带负 电荷。 （1）当P、A相触，DME与SCE短路，DME与 SCE具有相同的正电位，滴汞表面带正电荷 （结合表面电荷与电压关系图说明）