
姓名: 麻省理工学院 电气工程与计算机科学系 6.012微电子器件与电路 开卷 注意事项: 1,如无其他说明,假定室温且假定KT/q为0.025N。你还可以假定[(kT/q)1nl0] 近似为0.05N。 2.开卷:允许带6.012课本和笔记, 3。所有答案和任何相关的记录都必须回答在本试套上。你所交的任何附加纸张 将不予以接收。 4.作合理的近似和假设,声明和证明你所作的任何近似和假设。 5.检查确定你的试卷共包含13页,将你的姓名填写在本页顶部空白处. 6.1999年4月开始期末考试。 6012仅供评阅人使用 第一部分 (总分28分) 第二部分 (总分0分) 第三部分 (总分32分) 总分
姓名: 麻省理工学院 电气工程与计算机科学系 6.012 微电子器件与电路 开卷 注意事项: 1.如无其他说明,假定室温且假定ΚΤ/ q 为 0.025V。你还可以假定[(kT/q)ln10] 近似为 0.06V。 2. 开卷;允许带 6.012 课本和笔记。 3. 所有答案和任何相关的记录都必须回答在本试卷上。你所交的任何附加纸张 将不予以接收。 4. 作合理的近似和假设。声明和证明你所作的任何近似和假设。 5. 检查确定你的试卷共包含 13 页,将你的姓名填写在本页顶部空白处。 6. 1999年4月开始期末考试。 6.012 仅供评阅人使用 第一部分 (总分 28 分) 第二部分 (总分 40 分) 第三部分 (总分 32 分) 总 分

题1(总分20分) 2页总12页 (a)~()部分渗及的是两个n型双极型品体管。A和B。这两个器作的外形尺寸和推柔 浓度等参数相同。但基极宽度w不回,A管的宽度是日的2倍。 ()郢个管具有更大的电流增益BF?解释你的答案并估计两管的的比率。 口入管口B管□上者皆不是,因为: 比率,版BFn (山》椰个管有更大的发射极-基极饱和电流,s了解释你的答案并估计两管,的比率, □A管□B管□上者皆不是,因为 比率,Ie√IEsm (ε)在两管有着相同的基极-集电极反偏压V的情况下,哪个管有最大的小信号基极-集电 极电容C,?解释你的答案并估计两管C,的比率。 口管口B管口上者皆不是,因为 比率CA/Cw (d)在两管有相同的静止电流1e的情况下,事个管有最大的小信号两导m?解释你的容 案并估计两管gm的比率。 口管□B管□上者皆不是,因为: 比率,8名 (©)哪个管在大集电极偏置电流时有更大的短路电流增益频率w,?解释你的答案并估计两 管e的比率。 口人管口B管 □上者皆不是,因为: 比率,所,虾,一 转下真 接上页 3页总12页
题 1(总分 20 分) 2 页 总 12 页 (a)~(f)部分涉及的是两个npn型双极型晶体管,A和B。这两个器件的外形尺寸和掺杂 浓度等参数相同,但基极宽度wB不同,A管的宽度是B的 2 倍。 (a)那个管具有更大的电流增益 ?解释你的答案并估计两管的 的比率。 A 管 B 管 二者皆不是,因为: 比率, ,A/ ,B= (b)那个管有更大的发射极-基极饱和电流,IES?解释你的答案并估计两管IES的比率。 A 管 B 管 二者皆不是,因为: 比率,IES,A/ IES,B= (c)在两管有着相同的基极-集电极反偏压VBC的情况下,哪个管有最大的小信号基极-集电 极电容Cµ?解释你的答案并估计两管Cµ的比率。 A 管 B 管 二者皆不是,因为: 比率 Cµ,A/Cµ,B= (d)在两管有相同的静止电流 Ic 的情况下,哪个管有最大的小信号跨导 gm?解释你的答 案并估计两管 gm 的比率。 A 管 B 管 二者皆不是,因为: 比率,gm,A/gm,B= (e)哪个管在大集电极偏置电流时有更大的短路电流增益频率wT?解释你的答案并估计两 管ωT的比率。 A 管 B 管 二者皆不是,因为: 比率,ωT,A/ωT,B= 转下页 接上页 3 页 总 12 页

()哪个管有着更大的V,?解释你的答案。 □人管口B管口上者皆不是,因为: (g)、(j)部分涉及的是构道硅制W06管和一个沟道硅制6管,它们在外形结构和携柔 领别相同,除了栅极长度L,其中一个是另一个的二倍。参数在大信号特性时也相同(K 定义为(盾L》μ(e/t》) (g)哪个管有更长的橛极长度,为什么? 口沟道□p沟道口上者皆不是,因为: ()这两个管的电子与空穴的比率是多少(比如,N型管中电子的迁移与P型管中空穴的 比率)了解释你的答案。 比率= 因为 ())厚个管有更大的小信号饱和桶-源电容C严?解释你的答案。 口淘道□p海道口上者皆不是,因为: )哪个管有更大的饱和概-漏电容C?解释你的答案, □n沟道□0沟道□二者皆不是,因为: ()哪个管有最小的漏-源转换时问?解释你的答案。 口沟道☐p沟道口上者皆不是,因为: 试题1结束 4页总12页
(f)哪个管有着更大的VA?解释你的答案。 A 管 B 管 二者皆不是,因为: (g)~(j)部分涉及的是n沟道硅制MOS管和一个p沟道硅制MOS管,它们在外形结构和掺杂 级别相同,除了栅极长度L,其中一个是另一个的二倍。参数K在大信号特性时也相同(K 定义为(W/L)μ(eox/tox)) (g)哪个管有更长的栅极长度,为什么? n 沟道 p 沟道 二者皆不是,因为: (h)这两个管的电子与空穴的比率是多少(比如,N 型管中电子的迁移与 P 型管中空穴的 比率)?解释你的答案。 比率= 因为: (i)i)哪个管有更大的小信号饱和栅-源电容 Cgs?解释你的答案。 n 沟道 p 沟道 二者皆不是,因为: ii)哪个管有更大的饱和栅-漏电容 Cgd?解释你的答案。 n 沟道 p 沟道 二者皆不是,因为: (j)哪个管有最小的漏-源转换时间τtr?解释你的答案。 n 沟道 p 沟道 二者皆不是,因为: 试题1结束 4页 总12页

题2(总分20分) P-N结如下图所示。该二极管的载南面积为10,在P区净受主浓度区N,为2x10c国,在N 区净施主浓度区风,为5x10”✉.电子迁移率:e为1600个-s,空穴迁移率μh为 640c/八-s,内部载流子浓度ni为10cm,而少数载流子寿金min为10. p+ n 8 2x10 16 -3 cm-3 5 x10 cm 9 x (um) (a)该-结内置电势为多少? fb= (b)在N型区少数载流子的散长度min是多少? Lnin" 以下的愿目中认为在N型区和P重区中少数载流子的扩散长度要比各自区域的宽度大得 多,并且损耗层很薄可以忽略。比如mn>之W,之x (c)二极管沿着=6口■的平面被题射,产生空穴电子对/c-s。光的强度使得是在x=8μ■ 过剩空穴数量,p'(6=,是0”cm (1)此光线型射下下,短路电流是多少? 转下页
题2(总分20分) P-N结如下图所示。该二极管的截面积为10-2 cm2 ,在P区净受主浓度区NA p为2 x 10 18 cm-3,在N 区净施主浓度区NDn,为5 x 10 16 cm-3。电子迁移率μe为1600 cm2 /V-s, 空穴迁移率μh 为 640 cm2 /V-s,内部载流子浓度ni为10 10 cm -3, 而少数载流子寿命τmin 为10 -4 s。 (a) 该P-N结内置电势Фb为多少? fb= (b)在N型区少数载流子的扩散长度Lmin是多少? Lmin= 以下的题目中认为在N型区和P型区中少数载流子的扩散长度要比各自区域的宽度大得 多,并且损耗层很薄可以忽略。比如Lmin >> wn, wp >> xn, xp. (c)二极管沿着X=6μm 的平面被照射,产生M空穴电子对/cm2 -s 。光的强度使得是在x=6μm 过剩空穴数量,p’(6μm),是10 15 cm-3 。 (i)此光线照射下下,短路电流iSC是多少? iSC= 转下页

接上页 5页总12页 (11)由于光醒所产生的过剩少数载流子在欧博接触x=9:■处复合的比率? 在狱姆接触复合的比率: (iii)M是什么? h (d)现在考虑将照射光线从=6μn处移至一个更找近结的陆方。 《i)短路电流是增大还是减小,为什么? 口增大□减小口不变,因为: (ii)在什么地方黑射,短路电流is的最大?最大值是多少7 短路电流最大值的照射位置:x sc最大值为如 试愿2结束 6页总12页
接上页 5页 总12页 (ii)由于光照所产生的过剩少数载流子在欧姆接触 x=9μm处复合的比率? 在欧姆接触复合的比率: (iii)M是什么? M= (d)现在考虑将照射光线从x=6μm处移至一个更接近结的地方。 (i)短路电流iSC是增大还是减小,为什么? 增大 减小 不变,因为: (ii)在什么地方照射,短路电流iSC的最大?最大值是多少? 短路电流最大值的照射位置 iSC:x= iSC最大值为: 试题2结束 6 页 总 12 页

题三(总分20分) 一个×型05管,沟道长度L为1μ■,党度W为I0mV0.2V,V+05V, C5x10FKm2电子迁移率4为1000cmNs。 (a)该S管<0时的偏置,Vs=Vs=0V,Vs=V-02V,在0时极偏置变为l2V。 (1)当)0且所有的暂态现象趋于稳定时,在氧化物半导体交接面处的附加移动电荷 的量是多少?是空穴还是电子? 口空穴 口电子 电荷总量: (ii)题《ai)里提到的移动电荷是从事儿来的? (b)现在考感该MOS管最初的偏置在侧值处,之后偏置突然增加。设MOS管在a0时, Vs-Ves0V,而Vcs-V0.5V.在t0时横极偏置变为I5V. (1)当))0并且所有暂老现象趋于稳定,在氧化物半导体交接面处所有用加移动电荷 的量是多少?是空穴还是电子? 口空穴 口电子 电荷总量: (11)思(一1)里提到的移动电荷是从罩儿来的? (c)当V=OV时,(b》部分中的答案又会是什么?其他所有电压都相同,提示:MOS 管饱和状布时的C,为总播极电容的23, 电荷总量: (d)该问题的这一部分涉及(b)部分的暂态播极电压充电.如当桶极电压从V,充电至V十IV。 和(b)部分一样,除特殊说明,认为V=Vs=OV, (i)如果通过一个10kOhm的电阻充电,充到90%的电量需多久? 转下到 接上页 7页总12项
题三(总分 20 分) 一个N型MOS管,沟道长度L为 1 μm ,宽度W为 10 µm, VFB=-0.2V,VT=+0.5V, Cox=5 x 10 -8 F/cm 2 电子迁移率µe 为 1000 cm 2 /V-s 。 (a)该MOS管t>0 且所有的暂态现象趋于稳定时,在氧化物半导体交接面处的附加移动电荷 的量是多少?是空穴还是电子? 空穴 电子 电荷总量: (ii)题(a-i)里提到的移动电荷是从哪儿来的? (b)现在考虑该MOS管最初的偏置在阈值处,之后偏置突然增加。设MOS管在t>0并且所有暂态现象趋于稳定,在氧化物半导体交接面处所有附加移动电荷 的量是多少?是空穴还是电子? 空穴 电子 电荷总量: (ii)题(b-i)里提到的移动电荷是从哪儿来的? (c)当VDS=10V时,(b-i)部分中的答案又会是什么?其他所有电压都相同。提示: MOS 管饱和状态时的Cgs为总栅极电容的2/3。 电荷总量: (d)该问题的这一部分涉及(b)部分的暂态栅极电压充电。如当栅极电压从VT充电至VT+1V。 和(b)部分一样,除特殊说明,认为VBS=VDS=0V。 (i)如果通过一个10kOhm的电阻充电,充到90%的电量需多久? 转下页 接上页 7页 总12页

充到90的时间: (ii)如果通过一个100A的电流源充电,充到90%的电量需多久7 充到90的封间1 (111)如果是将概极与理思电压源(输出阳抗为0)连接充电,忽略所有导线电阻和 接触电阻,为什么栅极电压没有马上被充上去?估计一下充电时间。 速度限制过程 预计充电时间: (》如果(d)部分中的漏-源电压是10W面不是T,答案会不同。指出这样一来充电时间 是变长还是变短。为什么?该时间为多少?就(山1)部分和(山11)部分(小-i)部分分 别作答。 (i)(d-i)部分和(ii部分: 口变快 口变慢 通过一个因数大约是」 因为: (i)(d-iii): 口变快 口变慢 通过一个因数大约是 因为: 试墨3结束 8页总12页
充到90%的时间: (ii)如果通过一个100μA的电流源充电,充到90%的电量需多久? 充到90%的时间: (iii)如果是将栅极与理想电压源(输出阻抗为 0)连接充电,忽略所有导线电阻和 接触电阻,为什么栅极电压没有马上被充上去?估计一下充电时间。 速度限制过程: 预计充电时间: (e)如果(d)部分中的漏-源电压是 10V 而不是 0V,答案会不同。指出这样一来充电时间 是变长还是变短,为什么?该时间为多少?就(d-i)部分和(d-ii)部分(d-iii)部分分 别作答。 (i)(d-i)部分和(d-ii)部分: 变快 变慢 通过一个因数大约是 因为: (i)(d-iii): 变快 变慢 通过一个因数大约是 因为: 试题 3 结束 8 页 总 12 页

题4(总分20分) 面对口S管反相器的挑战,一个双板型晶体管制造商为适位激烈的市场竞争,开发 了一个互补双极型逻辑电路家族称为CBL。其基本结构如下图所示。上面的品体管是一 个型的BT下面的品体管为NN型的BUT,里面的两个品体管按设计成称型的并且有 相月的饱和电流和a:且两管ss一10”A和a=联=09, V+ pnp npn VOUT (a) 检查上图的电路修香在实际作为反相器使用。按黑下面所述判断每个管在低电平和 高电平输入时的状态,并判定该墨件隆否真正作为反相墨。 (i)当v-V+-V时,每个管的状态如何?Va为高还是低?并给出其估计值. 口关断 口导通 口地和,因为: NPN: 关断 口导通 口地和,国为 口高 口低, 其值为 因为 (i) 其他条件不变,Vw变为。 PNP: 口关断 口导通 口地和,因为: 转下页 接上页 9页总12页
题 4(总分 20 分) 面对CMOS管反相器的挑战,一个双极型晶体管制造商为适应激烈的市场竞争,开发 了一个互补双极型逻辑电路家族称为CBL。其基本结构如下图所示。上面的晶体管是一 个PNP型的BJT下面的晶体管为NPN型的BJT。里面的两个晶体管被设计成对称型的并且有 相同的饱和电流和a;且两管IES=ICS=10 -14 A 和aF= aR = 0.9。 (a) 检查上图的电路能否在实际作为反相器使用。按照下面所述判断每个管在低电平和 高电平输入时的状态,并判定该器件能否真正作为反相器。 (i)当vIN=V+=1V时,每个管的状态如何?vOUT为高还是低?并给出其估计值。 PNP: 关断 导通 饱和,因为: NPN: 关断 导通 饱和,因为: vOUT : 高 低,其值为 因为 (i) 其他条件不变,vIN变为 0V。 PNP: 关断 导通 饱和,因为: 转下页 接上页 9 页 总 12 页

NPN: 口关断 口导通 口饱和,因为: VOUT 口高 口低,其值为 因为 (iD 该器件是否可实现环流功隆?解释你的答案 口是 口不是,因为 (b》利用图件的Ers-o11模型判断,当该电路中用到的NPN管的基极与发射极之间加0,6战 的电压,面集电极开路,即(0时,其集一射电压:的值,基极电流1的值,如下 图所示 1c=0 1B=7 VCE=? VBE -0.6 V la- Va= (©)在()部分中的计算可以用来估计本级的电压。但是这只是估计,因为在实际应用中 这么一个反相器将会与很多其它类似的反相器相连,如下图所示,并且当为高电平 时,集电极电流将不是0。下图中的一连串反相器表明了当左边的输入端电平为高时, 器件中电流从电源到地所流经的路径。(这有助于你在图中标出各个管的导通与关斯 情况,并判断输入输出端的电平高低。》 转下项 接上页 10页总12页
NPN: 关断 导通 饱和,因为: vOUT : 高 低,其值为 因为 (ii) 该器件是否可实现环流功能?解释你的答案 是 不是,因为 (b)利用器件的Ebers-Moll模型判断,当该电路中用到的NPN管的基极与发射极之间加 0.6V 的电压,而集电极开路,即iC=0 时,其集—射电压VCE的值,基极电流IB的值,如下 图所示: IB= VCE= (c)在(b)部分中的计算可以用来估计本级的电压,但是这只是估计,因为在实际应用中 这么一个反相器将会与很多其它类似的反相器相连,如下图所示,并且当vIN为高电平 时,集电极电流将不是 0。下图中的一连串反相器表明了当左边的输入端电平为高时, 器件中电流从电源到地所流经的路径。(这有助于你在图中标出各个管的导通与关断 情况,并判断输入输出端的电平高低。) 转下页 接上页 10 页 总 12 页

V+ + VIN High 吉 (d)下一步我们需要考虑在输出电压为低和高时CJT反相器扇出的影响。两个扇出,如下 图所示。 V+ VIN VOUT Stage with a fan-out of two(2)】 两个扇出时,其中的低输出值(即y高时的yr》是高了还是,了? 低输出值,口更低 口更高 口投有区别,因为 (》最后,在下面所提供的空白处,解释为什么不需要担心扇出对C然反相器的影响。 试题4结束 11到总12页
(d)下一步我们需要考虑在输出电压为低和高时 CJT 反相器扇出的影响。两个扇出,如下 图所示。 两个扇出时,其中的低输出值(即vIN高时的vOUT)是高了还是低了? 低输出值: 更低 更高 没有区别,因为: (e)最后,在下面所提供的空白处,解释为什么不需要担心扇出对 COMS 反相器的影响。 试题 4 结束 11 页 总 12 页