实验九门电路逻辑功能的测试(2学时) 1实验目的 掌握TTL与非门的参数测试方法，熟悉其逻辑功能。 2实验原理 认真阅读TTL集成门电路一节内容，熟悉TTL与非门的主要特性及参数。 3仪器设备 数字逻辑实验箱 一台 74LS00二输入端四与非门一片 74LS04 输入端四异或门一片 74LS86四组输入与或非门一片 4实验内容与步骤 74LS00为一个包含四个二输入与非门的集成芯片。其第1、2引脚、第4、5引脚、第 9、10引脚、第12、13引脚分别为四个与非门的输入，第3、6、8、11引脚分别为四个与 非门的输出。本实验仅使用其中一个与非门。 对于与非门，当输入中有一个为低电平，输出必为高电平；当输入全为高电平时，输出 才为低电平。当二输入与非门的一个输入接高电平，另一输入对地的电压发生变化时，与非 门的输出对地的电压也会随着发生变化，按此原理可测量、绘制出与非门的输出特性曲线。 以四个2输入与非门74LS00为例，测试与非门的逻辑功能。按以下实验步骤测量输出 高电平、低电平的值，并测量、绘制输出特性曲线，与理论值进行比较。 Voc 4☒2回回98 432可098 74LS00 1234567 1234567 GND GND (a) (6) 图9-17400引脚图 1.确定74LS00的引脚位置如上图9-1所示： 2.将74LS00插入多孔的实验板上，并准备好电源和电压表等设备：
实验九 门电路逻辑功能的测试（2 学时） 1 实验目的 掌握 TTL 与非门的参数测试方法，熟悉其逻辑功能。 2 实验原理 认真阅读 TTL 集成门电路一节内容，熟悉 TTL 与非门的主要特性及参数。 3 仪器设备 数字逻辑实验箱 一台 74LS00 二输入端四与非门 一片 74LS04 输入端四异或门 一片 74LS86 四组输入与或非门 一片 4 实验内容与步骤 74LS00 为一个包含四个二输入与非门的集成芯片。其第 1、2 引脚、第 4、5 引脚、第 9、10 引脚、第 12、13 引脚分别为四个与非门的输入，第 3、6、8、11 引脚分别为四个与 非门的输出。本实验仅使用其中一个与非门。 对于与非门，当输入中有一个为低电平，输出必为高电平；当输入全为高电平时，输出 才为低电平。当二输入与非门的一个输入接高电平，另一输入对地的电压发生变化时，与非 门的输出对地的电压也会随着发生变化，按此原理可测量、绘制出与非门的输出特性曲线。 以四个 2 输入与非门 74LS00 为例，测试与非门的逻辑功能。按以下实验步骤测量输出 高电平、低电平的值，并测量、绘制输出特性曲线，与理论值进行比较。 图 9-1 7400 引脚图 1. 确定 74LS00 的引脚位置如上图 9-1 所示； 2.将 74LS00 插入多孔的实验板上，并准备好电源和电压表等设备；
3.按输出高电平测试电路图9-2要求连接好电路，进行输出高电平的测试： 4.按输出低电平测试电路图9-3所示，进行输出低电平的测试： 5.按输出特性测试电路图9-4所示，逐步改变输入端Vi的值，同时测量对应的V0值，并 做好数据记录，描绘输出特性曲线。 +5W 9+5W +5V 图9-2输出高电平测试 图9-3输出低电平测试 图9-4输出特性测试 6.测试结束后，关闭电源，去掉连接线，将实验设备整理好，实验结束。 5实验报告要求 1.记录实验过程中的数据： 2.描绘出输出特性曲线： 3.解答以上思考题： 4.对实验结果进行分析总结
3.按输出高电平测试电路图 9-2 要求连接好电路，进行输出高电平的测试； 4.按输出低电平测试电路图 9-3 所示，进行输出低电平的测试； 5.按输出特性测试电路图 9-4 所示，逐步改变输入端 Vi 的值，同时测量对应的 VO 值，并 做好数据记录，描绘输出特性曲线。 图 9-2 输出高电平测试 图 9-3 输出低电平测试 图 9-4 输出特性测试 6. 测试结束后，关闭电源，去掉连接线，将实验设备整理好，实验结束。 5 实验报告要求 1. 记录实验过程中的数据； 2. 描绘出输出特性曲线； 3. 解答以上思考题； 4. 对实验结果进行分析总结
